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Volumn 83, Issue 2, 1998, Pages 786-792

Intrinsic strain in SiO2 thin films

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EID: 4444307840     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.366759     Document Type: Article
Times cited : (40)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.