메뉴 건너뛰기




Volumn 16, Issue 18, 2004, Pages 3399-3401

Changes in electronic structure between cobalt and oxide ions of lithium cobalt phosphate as 4.8-V positive electrode material

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ELECTRON EXCHANGE; X-RAY ABSORPTION SPECTROSCOPY (XAS);

EID: 4444234636     PISSN: 08974756     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/cm049230t     Document Type: Article
Times cited : (79)

References (15)
  • 11
    • 3342903134 scopus 로고
    • Kuiper, P.; Kruizinga, G.; Ghijse, J.; Sawatzky, G. A.; Verweij, H. Phys. Rev. Lett. 1989, 62, 221. Docherty, F. T.; Craven, A. J.; McComb, D. W.; Skakle, J. Ultramicroscopy 2001, 86, 273. Uchimoto, Y.; Sawada, H.; Yao, T. J. Power Sources 2001, 97-98, 326. Yoon, W.-S.; Lee, W.-S.; Shin, W.-S.; Lee, W.-S.; Lee, J.-S. J. Phys. Chem. B 2002, 106, 2526-2532. Nakayama, M.; Imaki, K.; Ra, W.-K.; Ikuta, H.; Uchimoto, Y.; Wakihara, M. Chem. Mater. 2003, 15, 1728.
    • (1989) Phys. Rev. Lett. , vol.62 , pp. 221
    • Kuiper, P.1    Kruizinga, G.2    Ghijse, J.3    Sawatzky, G.A.4    Verweij, H.5
  • 12
    • 0035116641 scopus 로고    scopus 로고
    • Kuiper, P.; Kruizinga, G.; Ghijse, J.; Sawatzky, G. A.; Verweij, H. Phys. Rev. Lett. 1989, 62, 221. Docherty, F. T.; Craven, A. J.; McComb, D. W.; Skakle, J. Ultramicroscopy 2001, 86, 273. Uchimoto, Y.; Sawada, H.; Yao, T. J. Power Sources 2001, 97-98, 326. Yoon, W.-S.; Lee, W.-S.; Shin, W.-S.; Lee, W.-S.; Lee, J.-S. J. Phys. Chem. B 2002, 106, 2526-2532. Nakayama, M.; Imaki, K.; Ra, W.-K.; Ikuta, H.; Uchimoto, Y.; Wakihara, M. Chem. Mater. 2003, 15, 1728.
    • (2001) Ultramicroscopy , vol.86 , pp. 273
    • Docherty, F.T.1    Craven, A.J.2    McComb, D.W.3    Skakle, J.4
  • 13
    • 0035395060 scopus 로고    scopus 로고
    • Kuiper, P.; Kruizinga, G.; Ghijse, J.; Sawatzky, G. A.; Verweij, H. Phys. Rev. Lett. 1989, 62, 221. Docherty, F. T.; Craven, A. J.; McComb, D. W.; Skakle, J. Ultramicroscopy 2001, 86, 273. Uchimoto, Y.; Sawada, H.; Yao, T. J. Power Sources 2001, 97-98, 326. Yoon, W.-S.; Lee, W.-S.; Shin, W.-S.; Lee, W.-S.; Lee, J.-S. J. Phys. Chem. B 2002, 106, 2526-2532. Nakayama, M.; Imaki, K.; Ra, W.-K.; Ikuta, H.; Uchimoto, Y.; Wakihara, M. Chem. Mater. 2003, 15, 1728.
    • (2001) J. Power Sources , vol.97-98 , pp. 326
    • Uchimoto, Y.1    Sawada, H.2    Yao, T.3
  • 14
    • 0037076148 scopus 로고    scopus 로고
    • Kuiper, P.; Kruizinga, G.; Ghijse, J.; Sawatzky, G. A.; Verweij, H. Phys. Rev. Lett. 1989, 62, 221. Docherty, F. T.; Craven, A. J.; McComb, D. W.; Skakle, J. Ultramicroscopy 2001, 86, 273. Uchimoto, Y.; Sawada, H.; Yao, T. J. Power Sources 2001, 97-98, 326. Yoon, W.-S.; Lee, W.-S.; Shin, W.-S.; Lee, W.-S.; Lee, J.-S. J. Phys. Chem. B 2002, 106, 2526-2532. Nakayama, M.; Imaki, K.; Ra, W.-K.; Ikuta, H.; Uchimoto, Y.; Wakihara, M. Chem. Mater. 2003, 15, 1728.
    • (2002) J. Phys. Chem. B , vol.106 , pp. 2526-2532
    • Yoon, W.-S.1    Lee, W.-S.2    Shin, W.-S.3    Lee, W.-S.4    Lee, J.-S.5
  • 15
    • 0037461227 scopus 로고    scopus 로고
    • Kuiper, P.; Kruizinga, G.; Ghijse, J.; Sawatzky, G. A.; Verweij, H. Phys. Rev. Lett. 1989, 62, 221. Docherty, F. T.; Craven, A. J.; McComb, D. W.; Skakle, J. Ultramicroscopy 2001, 86, 273. Uchimoto, Y.; Sawada, H.; Yao, T. J. Power Sources 2001, 97-98, 326. Yoon, W.-S.; Lee, W.-S.; Shin, W.-S.; Lee, W.-S.; Lee, J.-S. J. Phys. Chem. B 2002, 106, 2526-2532. Nakayama, M.; Imaki, K.; Ra, W.-K.; Ikuta, H.; Uchimoto, Y.; Wakihara, M. Chem. Mater. 2003, 15, 1728.
    • (2003) Chem. Mater. , vol.15 , pp. 1728
    • Nakayama, M.1    Imaki, K.2    Ra, W.-K.3    Ikuta, H.4    Uchimoto, Y.5    Wakihara, M.6


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.