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Chronicle of Higher Education
Volumn 53, Issue 8, 2006, Pages
The power and peril of admissions data
(1)
Farrell, Elizabeth F
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EID
:
44349154642
PISSN
:
00095982
EISSN
:
None
Source Type
:
Journal
DOI
:
None
Document Type
:
Note
Times cited : (
7
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.