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Volumn 17, Issue 3, 2008, Pages 267-284

Entry mode research: Past and future

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Future research; International entry mode; Review

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EID: 43449126198     PISSN: 09695931     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/j.ibusrev.2008.01.003     Document Type: Article
Times cited : (338)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.