Effects of heat dissipation on unipolar resistance switching in PtNiOPt capacitors

Applied Physics Letters

Volumn 92, Issue 18, 2008, Pages

  Chang, S H ^a   Chae, S C ^a   Lee, S B ^a   Liu, C ^a   Noh, T W ^a   Lee, J S ^a   Kahng, B ^a   Jang, J H ^a   Kim, M Y ^a   Kim, D W ^b   Jung, C U ^c  

^a Seoul National University   (South Korea)

^b Ewha Womans University   (South Korea)

^c Hankuk University of Foreign Studies   (South Korea)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

CAPACITORS; ELECTRODES; RANDOM ACCESS STORAGE; SWITCHING; THERMAL EFFECTS;

CONDUCTING FILAMENTS; TEMPERATURE-DEPENDENT STABILITY;

HEAT LOSSES;

EID: 43349086846     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.2924304     Document Type: Article

References (20)

1. G. Dearnaley, A. M. Stoneham, and D. V. Morgan, Rep. Prog. Phys. 33, 1129 (1970), and references therein.
2. S. Q. Liu, N. J. Wu, and A. Ignatiev, Appl. Phys. Lett. 76, 2749 (2000).
3. A. Sawa, T. Fujii, M. Kawasaki, and Y. Tokura, Appl. Phys. Lett. 85, 4073 (2004).
4. R. Waser and M. Aono, Nat. Mater. 6, 833 (2007).
5. S. Seo, M. J. Lee, D. H. Seo, E. J. Jeoung, D.-S. Suh, Y. S. Joung, I. K. Yoo, I. R. Hwang, S. H. Kim, I. S. Byun, J.-S. Kim, J. S. Choi, and B. H. Park, Appl. Phys. Lett. 85, 5655 (2004).
6. B. J. Choi, S. Choi, K. M. Kim, Y. C. Shin, C. S. Hwang, S.-Y. Hwang, S. Cho, S. Park, and S.-K. Hong, Appl. Phys. Lett. 89, 012906 (2006).
7. S. C. Chae, J. S. Lee, S. J. Kim, S. B. Lee, S. H. Chang, C. Liu, B. Kahng, H. Shin, D.-W. Kim, H. Shin, C. U. Jung, S. Seo, M.-J. Lee, and T. W. Noh, Adv. Mater. (Weinheim, Ger.) 20, 1154 (2008).
8. I. H. Inoue, S. Yasuda, H. Akinaga, and H. Takagi, Phys. Rev. B 77, 035105 (2008).
9. I. G. Baek, M. S. Lee, S. Seo, M. J. Lee, D. H. Seo, D.-S. Suh, J. C. Park, S. O. Park, H. S. Kim, I. K. Yoo, U.-I. Chung, and J. T. Moon, Tech. Dig.-Int. Electron Devices Meet. 2004, 587.
10. R. Waser, Nanoelectronics and Information Technology (Wiley, Weinheim, 2003), p. 259.
11. C. Liu, S. C. Chae, S. H. Chang, S. B. Lee, J. S. Lee, B. Kahng, D.-W. Kim, C. U. Jung, S. Seo, S.-E. Ahn, and T. W. Noh, arXiv:0801.3323.
12. Y. Sato, K. Kinoshita, M. Aoki, and Y. Sugiyama, Appl. Phys. Lett. 90, 033503 (2007).
13. T. C. Chong, L. P. Shi, R. Zhao, P. K. Tan, J. M. Li, H. K. Lee, X. S. Miao, A. Y. Du, and C. H. Tung, Appl. Phys. Lett. 88, 122114 (2006).
14. D. R. Lide, Handbook of Chemistry and Physics, 85th ed. (CRC, Boca Raton, FL, 2004).
15. D.-W. Kim, R. Jung, B. H. Park, X.-S. Li, C. Park, S. Shin, D.-C. Kim, C. W. Lee, and S. Seo, Jpn. J. Appl. Phys. 47, 1635 (2008).
16. J.-W. Park, J.-W. Park, K. Jung, M. K. Jung, and J.-K. Lee, J. Vac. Sci. Technol. B 24, 2205 (2006).
17. S. Seo, M. J. Lee, D. H. Seo, S. K. Choi, D. S. Suh, Y. S. Joung, I. K. Yoo, I. S. Byun, I. R. Hwang, S. H. Kim, and B. H. Park, Appl. Phys. Lett. 86, 093509 (2005).
18. S. H. Chang, J. S. Lee, S. C. Chae, S. B. Lee, C. Liu, B. Kahng, D.-W. Kim, and T. W. Noh, arXiv:0803.4258.
19. J. S. Lee, M. Ortoiani, U. Schade, Y. J. Chang, and T. W. Noh, Appl. Phys. Lett. 90, 051907 (2007).
20. G. A. Slack and R. Newman, Phys. Rev. Lett. 1, 359 (1958).