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Ethics
Volumn 118, Issue 2, 2008, Pages 191-212
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(1)
Velleman, J David
a
a
NEW YORK UNIVERSITY
(
United States
)
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EID
:
42949127105
PISSN
:
00141704
EISSN
:
None
Source Type
:
Journal
DOI
:
10.1086/523746
Document Type
:
Review
Times cited : (
50
)
References (
35
)
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.