Magnetization reversal of submicrometer Co rings with uniaxial anisotropy via scanning magnetoresistance microscopy

Physical Review B - Condensed Matter and Materials Physics

Volumn 70, Issue 1, 2004, Pages

  Liu, Xiaoyong ^a   Mazumdar, D ^a   Schrag, B D ^a,b   Shen, W ^a   Xiao, Gang ^a  

^a BROWN UNIVERSITY   (United States)

^b Micro Magnetics Inc   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

COBALT;

ANISOTROPY; ARTICLE; HEAT TREATMENT; MAGNETIC FIELD; MAGNETISM; MICROSCOPY; ROTATION; SCANNING MAGNETORESISTANCE MICROSCOPY; SIMULATION;

EID: 42749102147     PISSN: 01631829     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1103/PhysRevB.70.014407     Document Type: Article

References (22)

1. S. Y. Chou, Proc. IEEE 85, 652 (1997).
2. C. A. Ross, H. I. Smith, T. Savas, M. Schattenburg, M. Farhoud, M. Hwang, M. Walsh, and R. J. Ram, J. Vac. Sci. Technol. B 17, 3168 (1999).
3. Y. Chen, A. Lebib, S. P. Li, M. Natali, D. Peyrade, and E. Cambril, Microelectron. Eng. 57-58, 405 (2001).
4. S. Y. Chou, P. R. Krauss, and P. J. Renstrom, Appl. Phys. Lett. 67, 3114 (1995).
5. S. A. Wolf, D. D. Awschalom, R. A. Buhrman, J. M. Daughton, S. von Molnar, M. L. Roukes, A. Y. Chtchelkanova, and D. M. Treger, Science 294, 1488 (2001).
6. J. G. Zhu, Y. F. Zheng, and G. A. Prinz, J. Appl. Phys. 87, 6668 (2000).
7. R. P. Cowburn, A. O. Adeyeye, and M. E. Welland, Phys. Rev. Lett. 81, 5414 (1998).
8. P. Vavassori, O. Donzelli, L. Callegaro, M. Grimsditch, and V. Metlushko, IEEE Trans. Magn. 36, 2993 (2000).
9. X. Zhu, P. Grutter, V. Metlushko, and B. Ilic, Phys. Rev. B 66, 024423 (2002).
10. T. Shinjo, T. Okuno, R. Hassdorf, K. Shigeto, and T. Ono, Science 289, 930 (2000).
11. M. Hehn, K. Ounadjela, J. Bucher, R. Rousseauz, D. Decanini, B. Bartenlian, and C. Chappert, Science 272, 1782 (1996).
12. C. A. F. Vaz, L. Lopez-Diaz, M. Klaui, J. A. C. Bland, T. L. Monchesky, J. Unguris, and Z. Cui, Phys. Rev. B 67, 140405 (2003).
13. Y. G. Yoo, M. Klaui, C. A. Vaz, L. J. Heyderman, and J. A. C. Bland, Appl. Phys. Lett. 82, 2470 (2003).
14. J. Rothman, M. Klaui, L. Lopez-Diaz, C. A. F. Vaz, A. Bleloch, J. A. C. Bland, Z. Cui, and R. Speaks, Phys. Rev. Lett. 86, 1098 (2000).
15. F. J. Castano, C. A. Ross, C. Frandsen, A. Eilez, D. Gil, H. I. Smith, M. Redjdal, and F. B. Humphrey, Phys. Rev. B 67, 184425 (2003).
16. M. Klaui, J. Rothman, L. Lopez-Diaz, C. A. F. Vaz, J. A. C. Bland, and Z. Cui, Appl. Phys. Lett. 78, 3268 (2001).
17. S. P. Li, D. Peyrade, M. Natali, A. Lebib, Y. Chen, U. Ebels, L. D. Buda, and K. Ounadjela, Phys. Rev. Lett. 86, 1102 (2003).
18. S. P. Li, W. S. Lew, J. A. C. Bland, M. Natali, A. Lebib, and Y. Chen, J. Appl. Phys. 92, 7397 (2002).
19. J. Bekaert, D. Buntinx, C. Van Haesendonck, V. V. Moshchalkov, J. De Boeck, G. Borghs, and V. Metlushko, Appl. Phys. Lett. 81, 3413 (2003).
20. B. D. Schrag and G. Xiao, Appl. Phys. Lett. 82, 3272 (2003).
21. H. Tsang, R. E. Fontana, T. Lin, D. E. Heim, B. A. Gurney, and M. L. Williams, IBM J. Res. Dev. 42, 103 (1998).
22. The micromagnetic simulation package (OOMMF) is available at http://math.nist.gov/oommf