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Volumn 62, Issue 1, 2000, Pages 119-122

Measurements of critical-current diffraction patterns in annular Josephson junctions

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EID: 4244168255     PISSN: 10980121     EISSN: 1550235X     Source Type: Journal    
DOI: 10.1103/PhysRevB.62.119     Document Type: Article
Times cited : (7)

References (15)
  • 8
    • 0001229811 scopus 로고    scopus 로고
    • S. Keil et. al Phys. Rev. B 54, 14 948 (1996).
    • (1996) Phys. Rev. B , vol.54 , pp. 14948
    • Keil, S.1


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.