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Volumn 422, Issue 1-3, 1999, Pages 164-168

Geometrically weighted semiconductor Frisch grid radiation spectrometers

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EID: 4244047450     PISSN: 01689002     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/S0168-9002(98)00948-6     Document Type: Article
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References (14)
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.