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Volumn 60, Issue 11, 1999, Pages 8392-

Erratum: Thermoelectric and hot-electron properties of a silicon inversion layer [Phys. Rev. B 56, 12 422 (1997)]
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EID: 4244014886     PISSN: 10980121     EISSN: 1550235X     Source Type: Journal    
DOI: 10.1103/PhysRevB.60.8392     Document Type: Erratum
Times cited : (5)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.