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Volumn 61, Issue 20, 2000, Pages 13821-13832

Electrostatic screening near semiconductor surfaces

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EID: 4243954565     PISSN: 10980121     EISSN: 1550235X     Source Type: Journal    
DOI: 10.1103/PhysRevB.61.13821     Document Type: Article
Times cited : (22)

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    • (1990) J. Phys. Chem. , vol.94 , pp. 7684


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.