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Volumn 14, Issue 12, 1976, Pages 5364-5371

Hot-electron effects in silicon quantized inversion layers

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EID: 4243810298     PISSN: 01631829     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1103/PhysRevB.14.5364     Document Type: Article
Times cited : (61)

References (25)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.