메뉴 건너뛰기




Volumn 13, Issue 10, 1997, Pages 2825-2832

Mapping local electrostatic forces with the atomic force microscope

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords


EID: 4243277794     PISSN: 07437463     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/la960874s     Document Type: Article
Times cited : (127)

References (22)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.