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Volumn 25, Issue 4, 2008, Pages 1407-1410

Direct observation of tunnelling through 100-nm-wide all metal magnetic junction into Si

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SILICON;

EID: 42349100183     PISSN: 0256307X     EISSN: 17413540     Source Type: Journal    
DOI: 10.1088/0256-307X/25/4/066     Document Type: Article
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References (14)
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.