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Volumn 57, Issue 3, 2008, Pages 1886-1890

Study of AlGaN/GaN MOSHEMT device with Al2O3 insulating film

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Al2O3; ALD; GaN; MOSHEMT

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EID: 41949123699     PISSN: 10003290     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: None     Document Type: Article
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.