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Volumn 17, Issue 3, 2007, Pages 420-425

Current research on profile monitoring

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Calibration; Functional data analysis; Linear regression; Multivariate quality control; Nonlinear regression; Statistical process control; Wavelets

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EID: 41549166315     PISSN: 01036513     EISSN: 19805411     Source Type: Journal    
DOI: 10.1590/S0103-65132007000300002     Document Type: Review
Times cited : (311)

References (56)
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.