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Volumn 978, Issue , 2006, Pages

Multiscale Modeling of Materials
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COMPUTER SIMULATION; GRAIN BOUNDARIES; NANOPARTICLES; PARAMETER ESTIMATION; REMELTING; SILICON; SURFACE ROUGHNESS;

EID: 41549148357     PISSN: 02729172     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: None     Document Type: Conference Review
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.