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Volumn 50, Issue SUPPL., 2004, Pages 29-32

Crecimiento y determinación de la brecha de energía en películas delgadas de Cd1-xZnxTe

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CdZnTe; Radio frequency sputtering; Semiconductors II VI; Thin films

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EID: 4143151820     PISSN: 0035001X     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: None     Document Type: Article
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.