In-plane magnetic pattern separation in NiFe/NiO and Co/NiO exchange biased bilayers investigated by magnetic force microscopy

Journal of Magnetism and Magnetic Materials

Volumn 280, Issue 2-3, 2004, Pages 369-376

  Ehresmann, A ^a   Krug, I ^a   Kronenberger, A ^a   Ehlers, A ^a   Engel, D ^a  

^a Rheinland Pfälzische Technische Universität Kaiserslautern Landau   (Germany)

Author keywords

Exchange bias; Ion bombardment; Magnetic force microscopy; Magnetic patterning

Indexed keywords

APPROXIMATION THEORY; COBALT; ION BOMBARDMENT; MAGNETIC HYSTERESIS; MAGNETIZATION; REMANENCE;

EXCHANGE BIAS; MAGNETIC BILAYERS; MAGNETIC FORCE MICROSCOPY; MAGNETIC PATTERNING;

NICKEL COMPOUNDS;

EID: 4143053828     PISSN: 03048853     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/j.jmmm.2004.03.048     Document Type: Article

References (18)

1. Meiklejohn W.H., Bean C.P. Phys. Rev. 102:1956;1413.
2. Meiklejohn W.H., Bean C.P. Phys. Rev. 105:1957;904.
3. Berkowitz A.E., Takano H. J. Magn. Magn. Mater. 200:1999;552.
4. Nogués J., Schuller I.K. J. Magn. Magn. Mater. 192:1999;203.
5. Mewes T., Lopusnik R., Fassbender J., Hillebrands B., Jung M., Engel D., Ehresmann A., Schmoranzer H. Appl. Phys. Lett. 76:2000;1057.
6. Mougin A., Mewes T., Jung M., Engel D., Ehresmann A., Schmoranzer H., Fassbender J., Hillebrands B. Phys. Rev. B. 63:2001;060409.
7. Mougin A., Mewes T., Lopusnik R., Jung M., Engel D., Ehresmann A., Schmoranzer H., Fassbender J., Hillebrands B. IEEE Trans. Magn. 36(5):2000;2647.
8. Juraszek J., Fassbender J., Poppe S., Mewes T., Hillebrands B., Engel D., Kronenberger A., Ehresmann A., Schmoranzer H. J. Appl. Phys. 91(10):2002;6896.
9. Engel D., Kronenberger A., Jung M., Ehresmann A., Schmoranzer H., Paetzold A., Röll K. J. Magn. Magn. Mater. 263:2003;275.
10. Mougin A., Poppe S., Fassbender J., Hillebrands B., Faini G., Ebels U., Jung M., Engel D., Ehresmann A., Schmoranzer H. J. Appl. Phys. 89:2001;6606.
11. Fassbender J., Poppe S., Mewes T., Mougin A., Hillebrands B., Engel D., Jung M., Ehresmann A., Schmoranzer H., Faini G., Kirk K.J., Chapman J.N. Phys. Status. Solidi. A. 189:2002;439.
12. Fassbender J., Poppe S., Mewes T., Juraszek J., Hillebrands B., Barholz K.U., Mattheis. D. Engel R., Jung M., Schmoranzer H., Ehresmann A. Appl. Phys. A. 77:2003;51.
13. Hartmann U. Adv. Electron. Electron Phys. 87:1994;49.
14. Rugar D., Mamin H.J., Guenther P., Lambert S.E., Stern J.E., McFadyen I., Yogi T. J. Appl. Phys. 68:1990;1169.
15. Paetzold A., Röll K. J. Appl. Phys. 91(10):2002;7748.
16. J.F. Ziegler, J.P. Biersack, U. Littmark, SRIM 2000 code, The Stopping and Range of Ions in Solids, Pergamon, New York, 1985.
17. Hubert A., Schäfer R. Magnetic Domains. 2000;Springer, Berlin.
18. Engel D., Krug I., Schmoranzer H., Ehresmann A., Paetzold A., Röll K., Ocker B., Maass W. J. Appl. Phys. 94(9):2003;5925.