In situ real-time monitoring of electrochemical Ag deposition on a reconstructed Au(111) surface studied by scanning tunneling microscopy

Journal of Physical Chemistry C

Volumn 112, Issue 8, 2008, Pages 3073-3077

  Takakusagi, Satoru ^a   Kitamura, Ken ^a   Uosaki, Kohei ^a  

^a HOKKAIDO UNIVERSITY   (Japan)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

SCANNING TUNNELING MICROSCOPY; SILVER; SURFACE RECONSTRUCTION; ULTRAHIGH VACUUM;

ATOMIC HEIGHT; REAL-TIME MONITORING;

ELECTRODEPOSITION;

EID: 40549138786     PISSN: 19327447     EISSN: 19327455     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/jp709916m     Document Type: Article

References (29)

1. Hachiya, T.; Itaya, K. Ultramicroscopy 1992, 42, 445.
2. Ogaki, K.; Itaya, K. Electrochim. Acta 1995, 40, 1249.
3. Chen, C. H.; Vesecky, S. M.; Gewirth, A. J. Am. Chem. Soc. 1992, 114, 451.
4. Mrozek, P.; Sung, Y. E.; Han, M.; Gamboa-Aldeco, M.; Wieckowski, A.; Chen, C. H.; Gewirth, A. Electrochim. Acta 1995, 40, 17.
5. Garcia, S.; Salinas, D.; Mayer, C.; Schmidt, E.; Staikov, G.; Lorenz, W. J. Electrochim. Acta 1998, 43, 3007.
6. Mrozek, P.; Sung, Y. E.; Wieckowski, A. Surf. Sci. 1995, 335, 44.
7. Uchida, H.; Miura, M.; Watanabe, M. J. Electroanal. Chem. 1995, 386, 261.
8. Corcoran, S. G.; Chakarova, G. S.; Sieradzki, K. J. Electroanal. Chem. 1994, 377, 85.
9. Corcoran, S. G.; Chakarova, G. S.; Sieradzki, K. Phys. Rev. Lett. 1993, 71, 1585.
10. White, J. H.; Albarelli, M. J.; Abruna, H. D.; Blum, L.; Merloy, O. R.; Samant, M. G.; Borges, G. L.; Gordon, J. G. J. Phys. Chem. 1988, 92, 4432.
11. Chabala, E. D.; Ramadan, A. R.; Brunt, T.; Rayment, T. J. Electroanal. Chem. 1996, 412, 67.
12. Ramadan, A. R.; Chabala, E. D.; Rayment, T. Phys. Chem. Chem. Phys. 1999, 1, 1591.
13. Koos, D. A.; Richmond, G. L. J. Phys. Chem. 1992, 96, 3770.
14. Esplandiu, M. J.; Schneeweiss, M. A.; Kolb, D. M. Phys. Chem. Chem. Phys. 1999, 1, 4847.
15. Kondo, T.; Morita, J.; Okamura, M.; Saito, T.; Uosaki, K. J. Electroanal. Chem. 2002, 532, 201.
16. Borissov, D.; Tsekov, R.; Freyland, W. J. Phys. Chem. B 2006, 110, 15905.
17. Dovek, M. M.; Lang, C. A.; Nogami, J.; Quate, C. F. Phys. Rev. B 1989, 40, 11973.
18. Chambliss, D. D.; Wilson, R. J. J. Vac. Sci. Technol. B 1991, 9, 928.
19. Cercellier, H.; Fagot-Revurat, Y.; Kierren, B.; Malterre, D.; Reinert, F. Surf. Sci. 2004, 566-568, 520.
20. Didiot, C.; Pons, S.; Kierren, B.; Fagot-Revurat, Y.; Malterre, D. Surf. Sci. 2006, 600, 3917.
21. Cercellier, H.; Didiot, C.; Fagot-Revurat, Y.; Kierren, B.; Moreau, L.; Malterre, D. Phys. Rev. B 2006, 73, 195413.
22. Maupai, S.; Zhang, Y.; Schmuki, P. Surf. Sci. 2003, 527, L165.
23. Tao, N. J.; Pan, J.; Li, Y.; Oden, P. Y.; DeRose, J. A.; Lindsay, S. M.; Surf. Sci. Lett. 1992, 271, L338.
24. Allongue, P.; Cagnon, L.; Gomes, C.; Gündel, A.; Costa, V. Surf. Sci. 2004, 557, 41.
25. Lay, M. D.; Stickney, J. L. J. Am. Chem. Soc. 2003, 125, 1352.
26. Strbac, S.; Magnussen, O. M.; Behm, R. J. Phys. Rev. Lett. 1999, 83, 3246.
27. Clavilier, J.; Faure, R.; Guinet, G.; Durand, R. J. Electroanal. Chem. 1980, 107, 205.
28. Bulou, H.; Goyhenex, C. Phys. Rev. B 2002, 65, 045407.
29. Borensztein, Y.; Lopez-Rios, T.; Vuye, G. Phys. Rev. B 1988, 37, 6235.