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Volumn 29, Issue 1, 2008, Pages 5-10

Fault diagnostic VI system based on higher order cumulants

Author keywords

Fault diagnosis; Feature extraction; Higher order cumulants (HOC); Software system; Virtual instrument (VI)

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EID: 40049111071     PISSN: 02543087     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: None     Document Type: Article
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.