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Volumn , Issue , 2006, Pages

Modeling and testing process variation in nanometer CMOS

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DIGITAL SIGNAL PROCESSING; FAILURE ANALYSIS; FREQUENCY DOMAIN ANALYSIS; NETWORKS (CIRCUITS); PARAMETER ESTIMATION; SPURIOUS SIGNAL NOISE;

EID: 39749142615     PISSN: 10893539     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: 10.1109/TEST.2006.297716     Document Type: Conference Paper
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References (31)
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.