메뉴 건너뛰기





Volumn , Issue , 2006, Pages

Fully automated semiconductor operating condition testing

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

DATA STORAGE EQUIPMENT; FAILURE ANALYSIS; GENETIC ALGORITHMS; RECURSIVE FUNCTIONS; STATISTICAL METHODS;

EID: 39749093750     PISSN: 10893539     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: 10.1109/TEST.2006.297717     Document Type: Conference Paper
Times cited : (5)

References (20)
  • Reference 정보가 존재하지 않습니다.

* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.