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Volumn , Issue , 2006, Pages 433-436

Optimization of surface orientation for high-performance, low-power and robust FinFET SRAM

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FIELD EFFECT TRANSISTORS; LEAKAGE CURRENTS; SPURIOUS SIGNAL NOISE;

EID: 39049151711     PISSN: 08865930     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: 10.1109/CICC.2006.321009     Document Type: Conference Paper
Times cited : (24)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.