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Volumn 16, Issue 23, 1983, Pages 4733-4751

A model for impact ionisation in wide-gap semiconductors

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EID: 3743146499     PISSN: 00223719     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1088/0022-3719/16/23/030     Document Type: Article
Times cited : (54)

References (44)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.