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Volumn 68, Issue 4, 1977, Pages 1776-1784

Interactions of ion beams with surfaces. Reactions of nitrogen with silicon and its oxides

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EID: 36749119112     PISSN: 00219606     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.435869     Document Type: Article
Times cited : (173)

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    • The projected range is defined as the mean penetration depth for ions traveling normal to the surface.


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.