Invited Article: An improved double-toroidal spectrometer for gas phase (e,2e) studies

Review of Scientific Instruments

Volumn 78, Issue 11, 2007, Pages

  Lower, J ^a   Panajotovic R ^a   Bellm, S ^a   Weigold, E ^a  

^a AUSTRALIAN NATIONAL UNIVERSITY   (Australia)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

DATA ACQUISITION; ELECTRODES; ELECTRON ENERGY ANALYZERS; IONIZING RADIATION; SPECTROMETERS; TWO DIMENSIONAL;

DOUBLE-TOROIDAL SPECTROMETER; GAS PHASE; POLARIZED ELECTRONS;

ELECTRON SCATTERING;

EID: 36749012503     PISSN: 00346748     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.2813014     Document Type: Article

References (64)

1. E. McCarthy and E. Weigold, Electron-Atom Collisions (Cambridge University Press, Cambridge, England, 1995).
2. J. Ullrich, R. Moshammer, A. Dorn, R. Dörner, L. Ph. H. Schmidt, and H. Schmidt-Böcking, Rep. Prog. Phys. 66, 1463 (2003).
3. J. Lower and E. Weigold, J. Phys. E 22, 421 (1989).
4. H. Ehrhardt, M. Schulz, T. Tekaat, and K. Willmann, Phys. Rev. Lett. 22, 89 (1969).
5. R. Camilloni, A. Giardini-Guidoni, R. Tiribelli, and G. Stephani, Phys. Rev. Lett. 29, 618 (1972).
6. J. P. D. Cook, I. E. McCarthy, A. T. Stelbovics, and E. Weigold, J. Phys. B 17, 2339 (1984).
7. S. D. Kevan, Rev. Sci. Instrum. 54, 1441 (1993).
8. J. H. Moore, M. A. Coplan, L. Skillmann, Jr., and E. D. Brooks III, Rev. Sci. Instrum. 49, 463 (1978).
9. B. R. Todd, N. Lermer, and C. E. Brion, Rev. Sci. Instrum. 65, 349 (1994).
10. P. Storer, R. S. Caprari, S. A. C. Clark, and E. Weigold, Rev. Sci. Instrum. 65, 2214 (1994).
11. C. Miron, M. Simon, N. Leclercq, and P. Morin, Rev. Sci. Instrum. 68, 3728 (1997).
12. M. Takahashi, T. Saito, M. Matsuo, and Y. Udagawa, Rev. Sci. Instrum. 73, 2242 (2002).
13. A. Danjo, Y. Kato, N. Kobayashi, J. Matsumoto, H. Shimizu, H. Tanuma, Z. Wang, W. Wu, K. Yamazaki, and M. Yoshino, Rev. Sci. Instrum. 70, 1970 (1999).
14. X. G. Ren, C. G. Ning, J. K. Deng, S. F. Zhang, G. L. Su, F. Huang, and G. Q. Li, Rev. Sci. Instrum. 76, 063103 (2005).
15. M. Takahashi, N. Watanabe, Y. Khajuria, K. Nakayama, Y. Udagawa, and J. H. D. Eland, J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 141, 83 (2004).
16. F. Catoire, E. M. Staicu-Casagrande, A. Lahmam-Bennani, A. Duguet, A. Naja, X. G. Ren, B. Lohmann, and L. Avaldi, Rev. Sci. Instrum. 78, 013108 (2007).
17. R. Dörner, V. Mergel, O. Jagutzki, L. Spielberger, J. Ullrich, R. Moshammer, and H. Schmidt-Böcking, Phys. Rep. 330, 95 (2000).
18. X. Guo, J. M. Hurn, J. Lower, S. Mazevet, Y. Shen, E. Weigold, B. Granitza, and I. E. McCarthy, Phys. Rev. Lett. 76, 1228 (1996).
19. A. Dorn, A. Elliott, J. Lower, S. F. Mazevet, R. P. McEachran, I. E. McCarthy, and E. Weigold, J. Phys. B 31, 547 (1998).
20. E. Weigold and I. E. McCarthy, Electron Momentum Spectroscopy (Kluwer Academic, New York, 1999).
21. J. S. Risley, Rev. Sci. Instrum. 43, 95 (1972).
22. H. Z. Sar-el, Rev. Sci. Instrum. 38, 1210 (1967).
23. E. M. Purcell, Phys. Rev. 54, 818 (1938).
24. C. E. Kuyatt and J. A. Simpson, Rev. Sci. Instrum. 38, 103 (1967).
25. H. Wollnik, Focussing of Charged Particles, edited by, A. Septier, (Academic, New York, 1967), Vol. 2, pp. 164-202.
26. F. Toffoletto, R. C. G. Leckey, and J. D. Riley, Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B 12, 282 (1985).
27. T. J. Reddish, G. Richmond, G. W. Bagley, J. P. Wightman, and S. Cvejanovíc, Rev. Sci. Instrum. 68, 2685 (1997).
28. H. Goldstein, Classical Mechanics, 2nd ed. (Addison-Wesley, Reading, MA, 1980).
29. SIMION, ion source software, P.O. Box 2726 Idaho Falls, ID 83404, USA.
30. R. C. G. Leckey and J. D. Riley, Appl. Surf. Sci. 22/23, 196 (1985).
31. R. C. G. Leckey, J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 43, 183 (1987).
32. G. J. A. Hellings, H. Ottevanger, C. L. C. M. Knibbeler, J. Van Engelshoven, and H. H. Brongersma, J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 49, 359 (1989).
33. R. G. Smeek, R. M. Tromp, H. H. Kersten, A. J. H. Boerboom, and F. W. Saris, Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. 195, 581 (1982).
34. M. R. F. Siggel-King, R. Lindsay, F. M. Quinn, J. Pearson, G. Fraser, and G. Thornton, J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 0368-2048 10.1016/j.elspec.2004.02.010 137, 721 (2004); M. R. F. Siggel-King, R. Lindsay, T. J. Reddish, D. P. Seccombe, and F. M. Quinn, J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 144, 1005 (2005).
35. M. R. F. Siggel-King, R. Lindsay, F. M. Quinn, J. Pearson, G. Fraser, and G. Thornton, J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 0368-2048 10.1016/j.elspec.2004.02.010 137, 721 (2004); M. R. F. Siggel-King, R. Lindsay, T. J. Reddish, D. P. Seccombe, and F. M. Quinn, J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 144, 1005 (2005).
36. C. Azimonte, A. R. B. de Castro, A. Tadich, J. D. Riley, and R. C. G. Leckey, Braz. J. Phys. 33, 788 (2003).
37. J. H. Flexman, J. F. Williams, and P. A. Hayes, J. Phys. IV 3, 79 (1993).
38. R. W. van Boeyen and J. F. Williams, Rev. Sci. Instrum. 76, 063303 (2005).
39. J. Matsumoto, N. Kobayashi, A. Danjo, and M. Yoshino, Rev. Sci. Instrum. 75, 360 (2004).
40. A. Duguet, A. Lahmam-Bennani, M. Lecas, and B. El Marji, Rev. Sci. Instrum. 69, 3524 (1998).
41. R. Guillemin, E. Shigemasa, K. Le Guen, D. Ceolin, C. Miron, N. Leclercq, K. Ueda, P. Morin, and M. Simon, Rev. Sci. Instrum. 71, 4387 (2000).
42. K. Le Guen, D. Ćolin, R. Guillemin, C. Miron, N. Leclercq, M. Bougeard, M. Simon, P. Morin, A. Mocellin, F. Burmeister, A. Naves de Brito, and S. L. Sorensen, Rev. Sci. Instrum. 73, 3885 (2002).
43. H. A. Engelhardt, A. Zartner, and D. Menzel, Rev. Sci. Instrum. 52, 835 (1981).
44. J. Moore, C. C. Davis, and M. Coplan, Building Scientific Apparatus (Addison-Wesley, Reading, MA, 1983), p. 288.
45. P. Hayes, M. A. Bennett, J. Flexman, and J. F. Williams, Rev. Sci. Instrum. 59, 2445 (1988).
46. E. Harting and F. H. Read, Electrostatic Lenses (Elsevier, Amsterdam, 1976).
47. S. Ramo, J. Whinnery, and T. van Duzer, Fields and Waves in Communication Electronics (Wiley, New York, 1965), p. 168.
48. D. T. Pierce, R. J. Celotta, G.-C. Wang, W. N. Unertl, A. Galejs, C. E. Kuyatt, and S. R. Mielczarek, Rev. Sci. Instrum. 51, 478 (1980).
49. P. A. Hayes, D. H. Yu, and J. F. Williams, Rev. Sci. Instrum. 68, 1708 (1997).
50. C. D. Schröter, A. Rudenko, A. Dorn, R. Moshammer, and J. Ullrich, Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. A 536, 312 (2005).
51. J. Kessler, Polarized Electrons, 2nd ed. (Springer, Berlin, 1985).
52. Electronic Material Engineering, RSPhysse, Australian National University, http://wwwrsphysse.anu.edu.au/eme/home.php
53. T. Nakanishi, H. Aoyagi, H. Horinaka, Y. Kamiya, T. Kato, S. Nakamura, T. Saka, and M. Tsubata, Phys. Lett. A 158, 345 (1991).
54. J. Lower, A. Elliott, E. Weigold, S. Mazevet, and J. Berakdar, Phys. Rev. A 62, 012706 (2000).
55. N. Anderson, J. W. Gallagher, and I. V. Hertel, Phys. Rep. 165, 1 (1988).
56. J. L. Wiza, Nucl. Instrum. Methods 162, 587 (1979).
57. Roentdek Gmbh, www.roentdek.com
58. R. T. Brinkmann and S. Trajmar, J. Phys. E 14, 245 (1981).
59. R. Panajotovic, D. Filipovic, B. Marinkovic, V. Pejcev, M. Kurepa, and L. Vuskovic, J. Phys. B 30, 5877 (1997).
60. R. P. McEachran (private communication).
61. D. F. Register, S. Trajmar, and S. K. Srivasta, Phys. Rev. A 21, 1134 (1980).
62. D. V. Fursa and I. Bray, J. Phys. B 30, 757 (1997).
63. I. Bray (private communication).
64. A. J. Murray and F. H. Read, J. Phys. B 25, L579 (1992).