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Volumn 57, Issue 11, 1990, Pages 1161-1163

High critical currents in strained epitaxial YBa2Cu 3O7-δ on Si

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EID: 36549097237     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.104225     Document Type: Article
Times cited : (213)

References (16)
  • 15
    • 84950551496 scopus 로고    scopus 로고
    • We ordinarily expect a [Formula Omitted] of 5‐6% for YSZ films on Si with no epitaxial overlayer.


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.