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Volumn 67, Issue 12, 1990, Pages 7439-7452

Interface and bulk trap generation in metal-oxide-semiconductor capacitors

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EID: 36549092971     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.344534     Document Type: Article
Times cited : (129)

References (54)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.