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Volumn 78, Issue 12, 1995, Pages 7103-7108

Effects of oxygen-argon mixing on the electrical and physical properties of ZrTiO4 films sputtered on silicon at low temperature

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EID: 36449009802     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.360418     Document Type: Article
Times cited : (28)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.