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Volumn 64, Issue 2, 1994, Pages 241-243

Distribution of the critical current density and flux trapping in YBa 2Cu3O7-δ ramp-edge Josephson junctions

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EID: 36449005857     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.111516     Document Type: Article
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References (18)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.