메뉴 건너뛰기




Volumn 64, Issue 15, 1994, Pages 2010-2012

Nanoscale patterning and oxidation of H-passivated Si(100)-2×1 surfaces with an ultrahigh vacuum scanning tunneling microscope

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords


EID: 36449004659     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.111722     Document Type: Article
Times cited : (491)

References (19)
  • 10
    • 84951377453 scopus 로고    scopus 로고
    • Virginia Semiconductor, Inc., Fredericksburg, VA 22401


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.