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Volumn 70, Issue 6, 1991, Pages 3038-3045

Geometrical theory of critical thickness and relaxation in strained-layer growth

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EID: 36449002778     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.349335     Document Type: Article
Times cited : (106)

References (19)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.