The effect of mg incorporation on structural and optical properties of Zn2 Ge O4: Mn phosphor

Journal of the Electrochemical Society

Volumn 155, Issue 1, 2008, Pages

  Anoop, G ^a,b   Krishna, K Mini ^a   Jayaraj, M K ^a  

^a Department of Physics   (India)

^b ELECTROCHEMICAL SOCIETY   (India)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

BLUE SHIFT; RESONANT TRANSFER; RHOMBOHEDRAL;

CONCENTRATION (PROCESS); MAGNESIUM; MANGANESE; OPTICAL PROPERTIES; PHOSPHORS; X RAY DIFFRACTION ANALYSIS;

ZINC COMPOUNDS;

EID: 36448946220     PISSN: 00134651     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1149/1.2799585     Document Type: Article

References (25)

1. C. B. Thomas and W. N. Cranton, Appl. Phys. Lett., 63, 3119 (1993).
2. M. K. Jayaraj and C. P. G. Vallabhan, J. Electrochem. Soc., 138, 1512 (1991).
3. K. Ohmi, K. Yamabe, H. Fukada, T. Fujiwara, S. Tanaka, and H. Kobayashi, Appl. Phys. Lett., 73, 1889 (1998).
4. B. A. Baukol, J. C. Hitt, P. D. Keir, and J. F. Wager, Appl. Phys. Lett., 76, 185 (2000).
5. T. Minami, Solid-State Electron., 47, 2237 (2003).
6. A. H. Kitai, Thin Solid Films, 445, 367 (2003).
7. S. Itoh, H. Toki, Y. Sato, K. Morimoto, and T. Kishino, J. Electrochem. Soc., 138, 1509 (1991).
8. T. Minami, Y. Kuroi, T. Miyata, H. Yamada, and S. Takata, J. Lumin., 72, 997 (1997).
9. I. K. Jeong, H. L. Park, and S. I. Mho, Solid State Commun., 108, 823 (1998).
10. K. Mini Krishna, G. Anoop, and M. K. Jayaraj, J. Electrochem. Soc., 154, J310 (2007).
11. K. H. Hsu, M. R. Yang, and K. S. Chen, J. Mater. Sci.: Mater. Electron., 9, 283 (1998).
12. T. Minami, Y. Kuroi, and S. Takata, J. Vac. Sci. Technol. A, 14, 1736 (1996).
13. L. C. Williams, D. Norton, J. Budai, and P. H. Holloway, J. Electrochem. Soc., 151, H188 (2004).
14. J. S. Lewis and P. H. Holloway, J. Electrochem. Soc., 147, 3148 (2000).
15. J. P. Bender, J. F. Wager, J. Kissick, B. L. Clark, and D. A. Keszler, J. Lumin., 99, 311 (2002).
16. T. H. Yeom, Y. H. Lee, T. S. Hahn, M. H. Oh, and S. H. Choh, J. Appl. Phys., 79, 1004 (1996).
17. A. Ohtomo, M. Kawasaki, T. Koida, K. Masabuchi, H. Koinama, Y. Sakurai, Y. Yoshida, T. Yasuda, and Y. Segawa, Appl. Phys. Lett., 72, 2466 (1998).
18. A. Ohtomo, M. Kawasaki, I. Ohkubo, H. Koinuma, T. Yasuda, and Y. Segawa, Appl. Phys. Lett., 75, 980 (1999).
19. R. D. Shannon, Acta Crystallogr., 32, 751 (1976).
20. B. D. Cullity and S. R. Stock, Elements of X-Ray Diffraction, 3rd ed., Prentice Hall, New York (2001).
21. K. S. Soha, B. Cho, H. Chang, and H. D. Park, J. Electrochem. Soc., 146, 2353 (1999).
22. L. Shea, R. K. Dutta, and J. J. Brown, Jr., J. Electrochem. Soc., 141, 1950 (1994).
23. J. Sato, H. Kobayashi, K. Ikarashi, N. Saito, H. Nishiyama, and Y. Inoue, J. Phys. Chem., 108, 4369 (2004).
24. V. Bondar, S. Popovich, T. Felter, and J. F. Wager, Mater. Res. Soc. Symp. Proc., 667, G761 (2001).
25. U. Ozgur, Y. I. Alivov, C. Liu, A. Teke, M. A. Reshchikov, S. Dogan, V. Avrutin, S. J. Cho, and H. Markoc, J. Appl. Phys., 98, 041301 (2005).