-
1
-
-
0029911943
-
-
Dai, H.; Hafner, J. H.; Rinzler, A. G.; Colbert, D. T.; Smalley, R. E. Nature 1996, 384, 147-150.
-
(1996)
Nature
, vol.384
, pp. 147-150
-
-
Dai, H.1
Hafner, J.H.2
Rinzler, A.G.3
Colbert, D.T.4
Smalley, R.E.5
-
2
-
-
0000440237
-
-
Stevens, R.; Nguyen, C.; Cassell, A.; Delzeit, L.; Meyyappan, M.; Han, J. Appl. Phys. Lett. 2000, 77, 3453-3455.
-
(2000)
Appl. Phys. Lett
, vol.77
, pp. 3453-3455
-
-
Stevens, R.1
Nguyen, C.2
Cassell, A.3
Delzeit, L.4
Meyyappan, M.5
Han, J.6
-
3
-
-
79956011133
-
-
Yenilmez, E.; Wang, Q.; Chen, R. J.; Wang, D.; Dai, H. Appl. Phys. Lett. 2002, 80, 2225-2227.
-
(2002)
Appl. Phys. Lett
, vol.80
, pp. 2225-2227
-
-
Yenilmez, E.1
Wang, Q.2
Chen, R.J.3
Wang, D.4
Dai, H.5
-
4
-
-
4143068974
-
-
Ye, Q.; Cassell, A. M.; Liu, H. B.; Chao, K. J.; Han, J.; Meyyappan, M. Nano Lett. 2004, 4, 1301-1308.
-
(2004)
Nano Lett
, vol.4
, pp. 1301-1308
-
-
Ye, Q.1
Cassell, A.M.2
Liu, H.B.3
Chao, K.J.4
Han, J.5
Meyyappan, M.6
-
5
-
-
33646163442
-
-
153102/1-153102/3
-
Chen, I.-C.; Chen, L.-H.; Ye, X.-R.; Daraio, C.; Jin, S.; Orme, C. A.; Quist, A.; Lal, R. Appl. Phys. Lett. 2006, 88, 153102/1-153102/3.
-
(2006)
Appl. Phys. Lett
, vol.88
-
-
Chen, I.-C.1
Chen, L.-H.2
Ye, X.-R.3
Daraio, C.4
Jin, S.5
Orme, C.A.6
Quist, A.7
Lal, R.8
-
6
-
-
38949188060
-
-
Chen, I.-C; Chen, L.-H.; Orme, C.; A.; Quist, A.; LaI, R.; Jin, S. Nanotechnology 2006, 17, 4322-4326.
-
Chen, I.-C; Chen, L.-H.; Orme, C.; A.; Quist, A.; LaI, R.; Jin, S. Nanotechnology 2006, 17, 4322-4326.
-
-
-
-
7
-
-
4644327862
-
-
AuBuchon, J. F.; Chen, L. H.; Gapin, A. I.; Kim, D. W.; Daraio, C.; Jin, S. Nano Lett. 2004, 4, 1781-1784.
-
(2004)
Nano Lett
, vol.4
, pp. 1781-1784
-
-
AuBuchon, J.F.1
Chen, L.H.2
Gapin, A.I.3
Kim, D.W.4
Daraio, C.5
Jin, S.6
-
9
-
-
0033476582
-
-
Otte, K.; Lippold, G.; Frost, F.; Schindler, A.; Bigl, F.; Yakushev, M. V.; Tomlinson, R. D. J. Vac. Sci. Technol. A 1999, 17, 19-25.
-
(1999)
J. Vac. Sci. Technol. A
, vol.17
, pp. 19-25
-
-
Otte, K.1
Lippold, G.2
Frost, F.3
Schindler, A.4
Bigl, F.5
Yakushev, M.V.6
Tomlinson, R.D.7
-
10
-
-
28844470390
-
-
Belyansky, M.; Klymko, N.; Madan, A.; Mallikarjunan, A.; Li, Y.; Chakravarti, A.; Deshpande, S.; Domenicucci, A.; Bedell, S.; Adams, E.; Coffin, J.; Tai, L.; Sun, S.-P.; Widodo, J.; Lai, C.-W. Mater. Res. Soc. Symp. Proc. 2005, 863, 97-102.
-
(2005)
Mater. Res. Soc. Symp. Proc
, vol.863
, pp. 97-102
-
-
Belyansky, M.1
Klymko, N.2
Madan, A.3
Mallikarjunan, A.4
Li, Y.5
Chakravarti, A.6
Deshpande, S.7
Domenicucci, A.8
Bedell, S.9
Adams, E.10
Coffin, J.11
Tai, L.12
Sun, S.-P.13
Widodo, J.14
Lai, C.-W.15
-
12
-
-
0001024253
-
-
Green, D. L.; Hu, E. L.; Stoffel, N. G. J. Vac. Sci. Technol., B 1994, 12, 3311-3316.
-
(1994)
J. Vac. Sci. Technol., B
, vol.12
, pp. 3311-3316
-
-
Green, D.L.1
Hu, E.L.2
Stoffel, N.G.3
-
13
-
-
0001802967
-
-
Chen, C.-H.; Green, D. L.; Hu, E. L. Appl. Phys. Lett. 1996, 69, 58-60.
-
(1996)
Appl. Phys. Lett
, vol.69
, pp. 58-60
-
-
Chen, C.-H.1
Green, D.L.2
Hu, E.L.3
-
15
-
-
0033963669
-
-
Moulin, A. M.; O'shea, S. J.; Weiland, M. E. Ultramicroscopy 2000, 82, 23-31.
-
(2000)
Ultramicroscopy
, vol.82
, pp. 23-31
-
-
Moulin, A.M.1
O'shea, S.J.2
Weiland, M.E.3
-
16
-
-
36749115612
-
-
Ito, T.; Kato, I.; Nozaki, T.; Nakamura, T.; Ishikawa, H. Appl. Phys. Lett. 1981, 38, 370-372.
-
(1981)
Appl. Phys. Lett
, vol.38
, pp. 370-372
-
-
Ito, T.1
Kato, I.2
Nozaki, T.3
Nakamura, T.4
Ishikawa, H.5
-
18
-
-
0003026898
-
-
Kobeda, E.; Irene, E. A. J. Vac. Sci. Technol., B 1988, 6, 574-578.
-
(1988)
J. Vac. Sci. Technol., B
, vol.6
, pp. 574-578
-
-
Kobeda, E.1
Irene, E.A.2
-
19
-
-
0034204826
-
-
Itakura, A. N.; Narushima, T.; Kitajima, M.; Teraishi, K.; Yamada, A.; Miyamoto, A. Appl Surf. Sci. 2000, 159-160, 62-66.
-
(2000)
Appl Surf. Sci
, vol.159-160
, pp. 62-66
-
-
Itakura, A.N.1
Narushima, T.2
Kitajima, M.3
Teraishi, K.4
Yamada, A.5
Miyamoto, A.6
-
20
-
-
4244165067
-
-
Grunling, U.; Gujrathi, S. C.; Poulin, S.; Diawara, Y.; Yelon, A. J. Appl. Phys. 1994, 75, 8075-8079.
-
(1994)
J. Appl. Phys
, vol.75
, pp. 8075-8079
-
-
Grunling, U.1
Gujrathi, S.C.2
Poulin, S.3
Diawara, Y.4
Yelon, A.5
-
21
-
-
0001706538
-
-
Job, R.; Ulyashin, A. G.; Fahmer, W. R.; Ivanov, A. I.; Palmetshofer, L. Appl. Phys. A 2001, 72, 325-332.
-
(2001)
Appl. Phys. A
, vol.72
, pp. 325-332
-
-
Job, R.1
Ulyashin, A.G.2
Fahmer, W.R.3
Ivanov, A.I.4
Palmetshofer, L.5
-
22
-
-
0042401349
-
-
Wei, L.; Tabuki, Y.; Kondo, H.; Tanigawa, S.; Nagai, R.; Takeda, E. J. Appl. Phys. 1991, 70, 7543-7548.
-
(1991)
J. Appl. Phys
, vol.70
, pp. 7543-7548
-
-
Wei, L.1
Tabuki, Y.2
Kondo, H.3
Tanigawa, S.4
Nagai, R.5
Takeda, E.6
|