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Volumn 1, Issue 20, 1989, Pages 3289-3293

Electron-electron scattering in narrow Si accumulation layers

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EID: 36149028879     PISSN: 09538984     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1088/0953-8984/1/20/010     Document Type: Article
Times cited : (39)

References (19)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.