Exploring the energetic deposition of pentacene on pentacene through molecular dynamics simulations

Journal of Physical Chemistry C

Volumn 111, Issue 43, 2007, Pages 15653-15659

  Goose, Joseph E ^a   Clancy, Paulette ^a  

^a Cornell University   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ENERGETIC DEPOSITION; HYPERTHERMAL ENERGIES; PENTACENE;

COMPUTER SIMULATION; GROWTH (MATERIALS); KINETIC ENERGY; MOLECULAR ORIENTATION; PARAMETER ESTIMATION;

MOLECULAR DYNAMICS;

EID: 36048983436     PISSN: 19327447     EISSN: 19327455     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/jp074124a     Document Type: Article

References (33)

1. Gundlach, D. J. 57th Device Research Conference Digest 1999, 1, 164.
2. Oana, D. J.; Jacob, B.; Thomas, T. M. P. Appl. Phys. Lett. 2004, 84, 3061.
3. Pratontep, S.; Brinkmann, M.; Nuesch, F.; Zuppiroli, L. Phys. Rev. B: Condens. Matter Mater. Phys. 2004, 69, 165201.
4. Kim, C.; Bang, K.; An, I.; Kang, C.; Kim, Y.; Jeon, D. Curr. Appl. Phys. 2006, 6, 925.
5. Minakata, T.; Imai, H.; Ozaki, M. J. Appl. Phys. 1992, 72, 4178.
6. Ruiz, R.; Nickel, B.; Koch, N.; Feldman, L. C.; Haglund, R. F.; Kahn, A.; Scoles, G. Phys. Rev. B 2003, 67, 125406.
7. Zorba, S.; Shapir, Y.; Gao, Y. Phys. Rev. B: Condens. Matter Mater. Phys. 2006, 74, 245410.
8. Meyer zu Heringdorf, F. J.; Reuter, M. C.; Tromp, R. M. Nature 2001, 412, 517-520.
9. Lloyd, M. T.; Mayer, A. C.; Tayi, A. S.; Bowen, A. M.; Kasen, T. G.; Herman, D. J.; Mourey, D. A.; Anthony, J. E.; Malliaras, G. G. Org. Electron. 2006, 7, 243.
10. Guo, D.; Ikeda, S.; Saiki, K.; Miyazoe, H.; Terashima, K. J. Appl. Phys. 2006, 99, 094502.
11. Park, S. K.; Kuo, C. C.; Anthony, J. E.; Jackson, T. N. Int. Electron Devices Meet., Tech. Dig. 2005, 113.
12. Ostroverkhova, O.; Cooke, D. G.; Shcherbyna, S.; Egerton, R.; Tykwinski, R. R.; Anthony, J. E.; Hegmann, F. A. Phys. Rev. B 2005, 71, 035204.
13. Jahma, M. O.; Rusanen, M.; Karim, A.; Koponen, I. T.; Ala-Nissila, T.; Rahman, T. S. J. Chem. Phys. 2005, 112, 6472.
14. Rabalais, J. W.; Al-Bayati, A. H.; Boyd, K. J.; Marton, D.; Kulik, J.; Chu, W. K. Phys. Rev. B 1996, 53, 781.
15. Iannotta, S.; Toccoli, T. J. Polym. Sci., Part B: Polym. Phys. 2003, 47, 2501.
16. Casalis, L.; Danisman, M. F.; Nickel, B.; Bracco, G.; Toccoli, T.; Iannotta, S.; Scoles, G. Phys. Rev. Lett. 2003, 90, 206101.
17. Killampalli, A. S.; Schroeder, T. W.; Engstrom, J. R. Appl. Phys. Lett. 2005, 87, 033110.
18. Killampalli, A. S.; Engstrom, J. R. Appl. Phys. Lett. 2006, 88, 143125.
19. Wu, Y.; Toccoli, T.; Koch, N.; Iacob, E.; Pallaoro, A.; Rudolf, P.; Iannotta, S. Phys. Rev. Lett. 2007, 98, 076601.
20. Toccoli, T.; Pallaoro, A.; Coppede, N.; Iannotta, S.; Angelis, F. D.; Mariucci, L.; Fortunato, G. Appl. Phys. Lett. 2006, 88, 132106.
21. Jacobsen, J.; Cooper, B. H.; Sethna, J. P. Phys. Rev. B 1998, 58, 15847.
22. Pirani, F.; Cappelletti, D.; Bartolomei, M.; Aquilanti, V.; Scotoni, M.; Vescovi, M.; Ascenzi, D.; Bassi, D. Phys. Rev. Lett. 2001, 86, 5035.
23. Goose, J. E.; Killampalli, A.; Engstrom, J. R.; Clancy, P. In press.
24. Allinger, N. L.; Yuh, Y. H.; Lii, J. H. J. Am. Chem. Soc. 1989, 111, 8551.
25. Lii, J. H.; Allinger, N. L. J. Am. Chem. Soc. 1989, 111, 8566.
26. Lii, J. H.; Allinger, N. L. J. Am. Chem. Soc. 1989, 111, 8576.
27. Verlaak, S.; Steudel, S.; Heremans, P.; Janssen, D.; Deleuze, M. S. Phys. Rev. B 2003, 68, 195409.
28. Northrup, J. E.; Tiago, M. L.; Louie, S. G. Phys. Rev. B 2002, 66, 121404.
29. Drummy, L.; Miska, P.; Alberts, D.; Lee, N.; Martin, D. J. Phys. Chem. B 2006, 110, 6066.
30. Evans, J. W.; Sanders, D. E.; Thiel, P. A.; DePristo, A. E. Phys. Rev. B 1990, 41, 5410.
31. Li, M.; Evans, J. W. Phys. Rev. Lett. 2005, 95, 256101.
32. Frisch, M. J.; Trucks, G. W.; Schlegel, H. B.; Scuseria, G. E.; Robb, M. A.; Cheeseman, J. R.; Montgomery, J. A., Jr.; Vreven, T.; Kudin, K. N.; Burant, J. C.; Millam, J. M.; Iyengar, S. S.; Tomasi, J.; Barone, V.; Mennucci, B.; Cossi, M.; Scalmani, G.; Rega, N.; Petersson, G. A.; Nakatsuji, H.; Hada, M.; Ehara, M.; Toyota, K.; Fukuda, R.; Hasegawa, J.; Ishida, M.; Nakajima, T.; Honda, Y.; Kitao, O.; Nakai, H.; Klene, M.; Li, X.; Knox, J. E.; Hratchian, H. P.; Cross, J. B.; Bakken, V.; Adamo, C.; Jaramillo, J.; Gomperts, R.; Stratmann, R. E.; Yazyev, O.; Austin, A. J.; Cammi, R.; Pomelli, C.; Ochterski, J. W.; Ayala, P. Y.; Morokuma, K.; Voth, G. A.; Salvador, P.; Dannenberg, J. J.; Zakrzewski, V. G.; Dapprich, S.; Daniels, A. D.; Strain, M. C.; Farkas, O.; Malick, D. K.; Rabuck, A. D.; Raghavachari, K.; Foresman, J. B.; Ortiz, J. V.; Cui, Q.; Baboul, A. G.; Clifford, S.; Cioslowski, J.; Stefanov, B. B.; Liu, G.; Liashenko, A.; Piskorz, P.; Komaromi, I.; Martin, R. L.; Fox, D. J.; Keith, T.; Al-Laham, M. A.; Peng, C. Y.; Nanayakkara, A.; Challacombe, M.; Gill, P. M. W.; Johnson, B.; Chen, W.; Wong, M. W.; Gonzalez, C.; Pople, J. A. Gaussian 03, revision C.02; Gaussian, Inc.: Wallingford, CT, 2004.
33. Stuart, S. J.; Tutein, A. B.; Harrison, J. A. J. Chem. Phys. 2000, 112, 6472.