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34548066755
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AFNOR, Customer Specific Requirements (ISO/TS16949) Semiconductor Commodity for use by semiconductor suppliers, Initial release : 03-01-2003, ISO/TS 16949 : 2002, AFNOR.
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AFNOR, Customer Specific Requirements (ISO/TS16949) Semiconductor Commodity for use by semiconductor suppliers, Initial release : 03-01-2003, ISO/TS 16949 : 2002, AFNOR.
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34548087488
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AFNOR, AFNOR
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AFNOR, Système de management de la qualité, exigences particulières pour l'application de l'ISO 9001 :2000 pour la production de série et de pièces de rechange dans l'industrie automobile, ISO2002, ANFIA, CCFA/FIEV, VDA, ISO/TS 16949 : 2002, AFNOR.
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(2002)
Système de management de la qualité, exigences particulières pour l'application de l'ISO 9001 :2000 pour la production de série et de pièces de rechange dans l'industrie automobile, ISO2002, ANFIA, CCFA/FIEV, VDA, ISO/TS
, pp. 16949
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34548071853
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Méthode outillée employant des connaissances d'experts
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»
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Bassetto S., Hubac S., Siadat A., Martin P., «Méthode outillée employant des connaissances d'experts », Revue Française de Gestion Industrielle, vol. 24, n° 1, 2005.
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(2005)
Revue Française de Gestion Industrielle
, vol.24
, Issue.1
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Bassetto, S.1
Hubac, S.2
Siadat, A.3
Martin, P.4
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6
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0033343817
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Conceptual Process Planning - a definition and functional decomposition
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Feng S., Zhang Y., "Conceptual Process Planning - a definition and functional decomposition", Manufacturing Science and Engineering, in the Proceedings of the International Mechanical Engineering Congress and Exposition, vol. 10, 1999, p. 97-106.
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(1999)
Manufacturing Science and Engineering, in the Proceedings of the International Mechanical Engineering Congress and Exposition
, vol.10
, pp. 97-106
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Feng, S.1
Zhang, Y.2
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7
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34548061437
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Ontology Engineering : A survey and a return on experience
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4396, INRIA, Mars
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Gandon F., Ontology Engineering : A survey and a return on experience, Rapport de Recherche no 4396, INRIA, Mars 2002.
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(2002)
Rapport de Recherche no
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-
Gandon, F.1
-
8
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34548079978
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Garin H., AMDEC/MADE/AEEL, L'essentiel de la méthode, Collection A SAVOIR, 1994.
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Garin H., AMDEC/MADE/AEEL, L'essentiel de la méthode, Collection A SAVOIR, 1994.
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9
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1942424770
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Assembly FMEA: A simplified Method for Identifying assembly errors
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Washington, D.C. November
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Kmenta S., Cheldelin B., Ishii K., "Assembly FMEA: A simplified Method for Identifying assembly errors", ASME International Mechanical Engineering Congress and Exposition Proceedings, Washington, D.C. November 2003.
-
(2003)
ASME International Mechanical Engineering Congress and Exposition Proceedings
-
-
Kmenta, S.1
Cheldelin, B.2
Ishii, K.3
-
11
-
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34548078883
-
Analyse Préliminaire des Risques
-
Mortureux Y., Analyse Préliminaire des Risques, Techniques de l'ingénieur, volume SE 4050, 2002.
-
(2002)
Techniques de l'ingénieur
, vol.SE
, pp. 4050
-
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Mortureux, Y.1
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12
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34548073248
-
Arbres de défaillance, de causes, et d'évènements
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Mortureux Y., Arbres de défaillance, de causes, et d'évènements, Techniques de l'ingénieur, volume SE 4010, 2001.
-
(2001)
Techniques de l'ingénieur
, vol.SE
, pp. 4010
-
-
Mortureux, Y.1
-
19
-
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0003699181
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Process technology, Second Edition, Lattice Press, Sunset Beach California
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Wolf S., Tauber R.N., Silicon Processing for VLSI Era, Volume 1- Process technology, Second Edition, Lattice Press, Sunset Beach California, 2000.
-
(2000)
Silicon Processing for VLSI Era
, vol.1
-
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Wolf, S.1
Tauber, R.N.2
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