-
1
-
-
33748086045
-
-
C. A. Verschuren, F. Zijp, D. M. Bruis, J. I. Lee, and J. M. A. van den Eerenbeemd: Proc. SPIE 6282 (2006) 62820M.
-
(2006)
Proc. SPIE
, vol.6282
-
-
Verschuren, C.A.1
Zijp, F.2
Bruis, D.M.3
Lee, J.I.4
van den Eerenbeemd, J.M.A.5
-
2
-
-
33748041991
-
-
D. M. Bruls, J. I. Lee, C. A. Verschuren, J. M. A. van den Eerenbeemd, F. Zijp, and B. Yin: Proc. SPIE 6282 (2006) 62820F.
-
(2006)
Proc. SPIE
, vol.6282
-
-
Bruls, D.M.1
Lee, J.I.2
Verschuren, C.A.3
van den Eerenbeemd, J.M.A.4
Zijp, F.5
Yin, B.6
-
3
-
-
23144441958
-
-
J. I. Lee, M. A. H. van der Aa, C. A. Verschuren, F. Zijp, and M. B. van der Mark: Jpn. J. Appl. Phys. 44 (2005) 3423.
-
(2005)
Jpn. J. Appl. Phys
, vol.44
, pp. 3423
-
-
Lee, J.I.1
van der Aa, M.A.H.2
Verschuren, C.A.3
Zijp, F.4
van der Mark, M.B.5
-
4
-
-
23144437860
-
-
M. Shinoda, K. Saito, T. Ishimoto, T. Kondo, A. Nakaoki, N. Ide, M. Furuki, M. Takeda, Y. Akiyama, T. Shimouma, and M. Yamamoto: Jpn. J. Appl. Phys. 44 (2005) 3537.
-
(2005)
Jpn. J. Appl. Phys
, vol.44
, pp. 3537
-
-
Shinoda, M.1
Saito, K.2
Ishimoto, T.3
Kondo, T.4
Nakaoki, A.5
Ide, N.6
Furuki, M.7
Takeda, M.8
Akiyama, Y.9
Shimouma, T.10
Yamamoto, M.11
-
5
-
-
10044230790
-
-
F. Zijp, M. B. van der Mark, J. I. Lee, C. A. Verschuren, B. H. W. Hendriks, M. L. M. Balistreri, H. P. Urbach, M. A. H. van der Aa, and A. V. Padiy: Proc. SPIE 5380 (2004) 209.
-
(2004)
Proc. SPIE
, vol.5380
, pp. 209
-
-
Zijp, F.1
van der Mark, M.B.2
Lee, J.I.3
Verschuren, C.A.4
Hendriks, B.H.W.5
Balistreri, M.L.M.6
Urbach, H.P.7
van der Aa, M.A.H.8
Padiy, A.V.9
-
7
-
-
34547878612
-
-
S. Stallinga, J. Vrehen, J. Wals, H. Stapert, and E. Versiegen: Proc. SPIE 4801 (2000) 50.
-
(2000)
Proc. SPIE
, vol.4801
, pp. 50
-
-
Stallinga, S.1
Vrehen, J.2
Wals, J.3
Stapert, H.4
Versiegen, E.5
-
9
-
-
34547907334
-
-
We used the ray-trace program. Zemax® for making our lens designs;
-
We used the ray-trace program. Zemax® for making our lens designs; www.zemax.com.
-
-
-
-
10
-
-
34547890944
-
-
C. A. Verschuren, D. M. Bruls, B. Yin, J. M. A. van den Eerenbeemd, and F. Zijp: in preparation for publication.
-
C. A. Verschuren, D. M. Bruls, B. Yin, J. M. A. van den Eerenbeemd, and F. Zijp: in preparation for publication.
-
-
-
-
12
-
-
0012863366
-
-
ed. D. Malacara Wiley, New York, 2nd ed, p
-
D. Malacara: in Optical Shop Testing, ed. D. Malacara (Wiley, New York, 1992) 2nd ed., p. 51.
-
(1992)
Optical Shop Testing
, pp. 51
-
-
Malacara, D.1
-
13
-
-
33748055785
-
-
W. M. J. Coene, A. P. Hekstra, B. Yin, H. Yamagishi, M. Noda, A. Nakaoki, and T. Horigome: Proc. SPIE 6282 (2006) 62820X.
-
(2006)
Proc. SPIE
, vol.6282
-
-
Coene, W.M.J.1
Hekstra, A.P.2
Yin, B.3
Yamagishi, H.4
Noda, M.5
Nakaoki, A.6
Horigome, T.7
-
14
-
-
10044226409
-
-
A. V. Padiy, B. Yin, C. A. Verschuren, J. Lee, R. Vlutters, and T. P. H. G. Jansen: Proc. SPIE 5380 (2004) 56.
-
(2004)
Proc. SPIE
, vol.5380
, pp. 56
-
-
Padiy, A.V.1
Yin, B.2
Verschuren, C.A.3
Lee, J.4
Vlutters, R.5
Jansen, T.P.H.G.6
|