-
1
-
-
0034299470
-
-
(a) Sieval, A. B.; Linke, R.; Zuilhof, H.; Sudhölter, E. J. R. Adv. Mater. 2000, 12, 1457-1460.
-
(2000)
Adv. Mater
, vol.12
, pp. 1457-1460
-
-
Sieval, A.B.1
Linke, R.2
Zuilhof, H.3
Sudhölter, E.J.R.4
-
3
-
-
0036589258
-
-
(c) Buriak, J. M. Chem. Rev. 2002, 102, 1271- 1308.
-
(2002)
Chem. Rev
, vol.102
, pp. 1271-1308
-
-
Buriak, J.M.1
-
5
-
-
24644510823
-
-
(e) Shirahata, N.; Hozumi, A.; Yonezawa, T. Chem. Rec. 2005, 5, 145-159.
-
(2005)
Chem. Rec
, vol.5
, pp. 145-159
-
-
Shirahata, N.1
Hozumi, A.2
Yonezawa, T.3
-
6
-
-
0031276050
-
-
Sung, M. M.; Kluth, G. J.; Yauw, O. W.; Maboudian, R. Langmuir 1997, 13, 6164-6168.
-
(1997)
Langmuir
, vol.13
, pp. 6164-6168
-
-
Sung, M.M.1
Kluth, G.J.2
Yauw, O.W.3
Maboudian, R.4
-
7
-
-
0029274673
-
-
(a) Linford, M. R.; Ferner, P.; Eisenberger, P. M.; Chidsey, C. E. D. J. Am. Chem. Soc. 1995, 117, 3145-3155.
-
(1995)
J. Am. Chem. Soc
, vol.117
, pp. 3145-3155
-
-
Linford, M.R.1
Ferner, P.2
Eisenberger, P.M.3
Chidsey, C.E.D.4
-
8
-
-
0032021791
-
-
(b) Sieval, A. B.; Demirel, A. L.; Nissink, J. W. M. ; Linford, M. R.; van der Maas, J. H. ; de Jeu, W. H. ; Zuilhof, H; Sudhölter, E. J. R. Langmuir 1998, 14, 1759-1768.
-
(1998)
Langmuir
, vol.14
, pp. 1759-1768
-
-
Sieval, A.B.1
Demirel, A.L.2
Nissink, J.W.M.3
Linford, M.R.4
van der Maas, J.H.5
de Jeu, W.H.6
Zuilhof, H.7
Sudhölter, E.J.R.8
-
9
-
-
0034205444
-
-
(a) Cicero, R. L.; Linford, M. R.; Chidsey, C. E. D. Langmuir 2000, 16, 5688-5695.
-
(2000)
Langmuir
, vol.16
, pp. 5688-5695
-
-
Cicero, R.L.1
Linford, M.R.2
Chidsey, C.E.D.3
-
10
-
-
0001437602
-
-
(b) Terry, J.; Linford, M. R.; Wigren, C.; Cao, R. Y.; Pianetta, P.; Chidsey, C. E. D. Appl. Phys. Lett. 1997, 71, 1056-1058.
-
(1997)
Appl. Phys. Lett
, vol.71
, pp. 1056-1058
-
-
Terry, J.1
Linford, M.R.2
Wigren, C.3
Cao, R.Y.4
Pianetta, P.5
Chidsey, C.E.D.6
-
11
-
-
0033573088
-
-
(a) Buriak, J. M.; Stewart, M. P.; Geders, T. W.; Allen, M. J.; Choi, H. C.; Smith, J.; Raftery, D.; Canham, L. T. J. Am. Chem. Soc. 1999, 121, 11491-11502.
-
(1999)
J. Am. Chem. Soc
, vol.121
, pp. 11491-11502
-
-
Buriak, J.M.1
Stewart, M.P.2
Geders, T.W.3
Allen, M.J.4
Choi, H.C.5
Smith, J.6
Raftery, D.7
Canham, L.T.8
-
12
-
-
0032675524
-
-
(b) Boukherroub, R.; Morin, S.; Bensebaa, F.; Wayner, D. D. M. Langmuir 1999, 15, 3831-3835.
-
(1999)
Langmuir
, vol.15
, pp. 3831-3835
-
-
Boukherroub, R.1
Morin, S.2
Bensebaa, F.3
Wayner, D.D.M.4
-
15
-
-
0001068734
-
-
(c) Holland, J. M.; Stewart, M. P.; Allen, M. J.; Buriak, J. M. J. Solid State Chem. 1999, 147, 251- 258.
-
(1999)
J. Solid State Chem
, vol.147
, pp. 251-258
-
-
Holland, J.M.1
Stewart, M.P.2
Allen, M.J.3
Buriak, J.M.4
-
16
-
-
33746933808
-
-
(a) Hurley, P. T.; Nemamck, E. J.; Brunschwig, B. S.; Lewis, N. S. J. Am. Chem. Soc. 2006, 128, 9990-9991.
-
(2006)
J. Am. Chem. Soc
, vol.128
, pp. 9990-9991
-
-
Hurley, P.T.1
Nemamck, E.J.2
Brunschwig, B.S.3
Lewis, N.S.4
-
17
-
-
0035815017
-
-
(b) Juang, A.; Scherman, O. A.; Grubbs, R. H.; Lewis, N. S. Langmuir 2001, 17, 1321-1323.
-
(2001)
Langmuir
, vol.17
, pp. 1321-1323
-
-
Juang, A.1
Scherman, O.A.2
Grubbs, R.H.3
Lewis, N.S.4
-
18
-
-
0000277374
-
-
(c) Royea, W. J.; Juang, A.; Lewis, N. S. Appl. Phys. Lett. 2000, 77, 1988-1990.
-
(2000)
Appl. Phys. Lett
, vol.77
, pp. 1988-1990
-
-
Royea, W.J.1
Juang, A.2
Lewis, N.S.3
-
19
-
-
0001533110
-
-
Vieillard, C.; Warntjes, M.; Ozanam, F.; Chazalviel, J.-N. Proc. Electrochem. Soc. 1996, 95, 250.
-
(1996)
Proc. Electrochem. Soc
, vol.95
, pp. 250
-
-
Vieillard, C.1
Warntjes, M.2
Ozanam, F.3
Chazalviel, J.-N.4
-
20
-
-
0035909153
-
-
(a) Niederhauser, T. L.; Jiang, G. L.; Lua, Y. Y.; Dorff, M. J.; Woolley, A. T.; Asplund, M. C.; Berges, D. A.; Linford, M. R. Langmuir 2001, 17, 5889-5900.
-
(2001)
Langmuir
, vol.17
, pp. 5889-5900
-
-
Niederhauser, T.L.1
Jiang, G.L.2
Lua, Y.Y.3
Dorff, M.J.4
Woolley, A.T.5
Asplund, M.C.6
Berges, D.A.7
Linford, M.R.8
-
21
-
-
0037007884
-
-
(b) Niederhauser, T. L.; Lua, Y. Y.; Jiang, G. L.; Davis, S. D.; Matheson, R.; Hess, D. A.; Mowat, I. A.; Linford, M. R. Angew. Chem., Int. Ed. 2002, 41, 2353-2356.
-
(2002)
Angew. Chem., Int. Ed
, vol.41
, pp. 2353-2356
-
-
Niederhauser, T.L.1
Lua, Y.Y.2
Jiang, G.L.3
Davis, S.D.4
Matheson, R.5
Hess, D.A.6
Mowat, I.A.7
Linford, M.R.8
-
22
-
-
6444239890
-
-
(c) Lee, M. V.; Guo, D.; Linford, M. R.; Zuilhof, H. Langmuir2004, 20, 9108-9113.
-
(2004)
Langmuir
, vol.20
, pp. 9108-9113
-
-
Lee, M.V.1
Guo, D.2
Linford, M.R.3
Zuilhof, H.4
-
23
-
-
30944448785
-
-
(d) Yang, L.; Lua, Y.-Y.; Lee, M. V.; Linford, M. R. Acc. Chem. Res. 2005, 38, 933-942.
-
(2005)
Acc. Chem. Res
, vol.38
, pp. 933-942
-
-
Yang, L.1
Lua, Y.-Y.2
Lee, M.V.3
Linford, M.R.4
-
24
-
-
29144493388
-
-
Liu, Y.; Yamazaki, S.; Yamabe, S.; Nakato, Y. J. Mater. Chem. 2005, 15, 4906-4913.
-
(2005)
J. Mater. Chem
, vol.15
, pp. 4906-4913
-
-
Liu, Y.1
Yamazaki, S.2
Yamabe, S.3
Nakato, Y.4
-
27
-
-
27144498545
-
-
(c) Faber, E. J.; de Smet, L. C. P. M.; Olthuis, W.; Zuilhof, H.; Sudhölter, E. J. R.; Bergveld, P.; van den Berg, A. Chem. Phys. Chem. 2005, 6, 2153-2166.
-
(2005)
Chem. Phys. Chem
, vol.6
, pp. 2153-2166
-
-
Faber, E.J.1
de Smet, L.C.P.M.2
Olthuis, W.3
Zuilhof, H.4
Sudhölter, E.J.R.5
Bergveld, P.6
van den Berg, A.7
-
28
-
-
33747172298
-
-
(d) Seitz, O.; Böcking, T.; Salomon, A.; Gooding, J. J.; Cahen, D. Langmuir 2006, 22, 6915-6922.
-
(2006)
Langmuir
, vol.22
, pp. 6915-6922
-
-
Seitz, O.1
Böcking, T.2
Salomon, A.3
Gooding, J.J.4
Cahen, D.5
-
29
-
-
33846439753
-
-
(e) Faber, E. J.; Sparreboom, W.; Groeneveld, W.; de Smet, L. C. P. M.; Olthuis, W.; Zuilhof, H.; Sudhölter, E. J. R.; Bergveld, P.; Van den Berg, A. Chem. Phys. Chem. 2007, 8, 101-112.
-
(2007)
Chem. Phys. Chem
, vol.8
, pp. 101-112
-
-
Faber, E.J.1
Sparreboom, W.2
Groeneveld, W.3
de Smet, L.C.P.M.4
Olthuis, W.5
Zuilhof, H.6
Sudhölter, E.J.R.7
Bergveld, P.8
Van den Berg, A.9
-
30
-
-
14744269444
-
-
(a) Sun, Q. Y.; de Smet, L.; van Lagen, B.; Giesbers, M.; Thüne, P. C.; van Engelenburg, J.; de Wolf, F. A.; Zuilhof, H.; Sudhölter, E. J. R. J. Am. Chem. Soc. 2005, 127, 2514-2523.
-
(2005)
J. Am. Chem. Soc
, vol.127
, pp. 2514-2523
-
-
Sun, Q.Y.1
de Smet, L.2
van Lagen, B.3
Giesbers, M.4
Thüne, P.C.5
van Engelenburg, J.6
de Wolf, F.A.7
Zuilhof, H.8
Sudhölter, E.J.R.9
-
31
-
-
3242685571
-
-
(b) Sun, Q. Y.; de Smet, L.; van Lagen, B.; Wright, A.; Zuilhof, H.; Sudhölter, E. J. R. Angew. Chem., Int. Ed. 2004, 43, 1352-1355.
-
(2004)
Angew. Chem., Int. Ed
, vol.43
, pp. 1352-1355
-
-
Sun, Q.Y.1
de Smet, L.2
van Lagen, B.3
Wright, A.4
Zuilhof, H.5
Sudhölter, E.J.R.6
-
32
-
-
10744225130
-
-
(c) de Smet, L. C. P. M.; Stork, G. A.; Hurenkamp, G. H. F.; Sun, Q.-Y.; Topai, H.; Vronen, P. J. E.; Sieval, A. B.; Wright, A.; Visser, G. M.; Zuilhof, H.; Sudhölter, E. J. R. J. Am. Chem. Soc. 2003, 125, 13916-13917.
-
(2003)
J. Am. Chem. Soc
, vol.125
, pp. 13916-13917
-
-
de Smet, L.C.P.M.1
Stork, G.A.2
Hurenkamp, G.H.F.3
Sun, Q.-Y.4
Topai, H.5
Vronen, P.J.E.6
Sieval, A.B.7
Wright, A.8
Visser, G.M.9
Zuilhof, H.10
Sudhölter, E.J.R.11
-
33
-
-
0033323843
-
-
Sieval, A. B.; Vleeming, V.; Zuilhof, H.; Sudhölter, E. J. R. Langmuir 1999, 15, 8288-8291.
-
(1999)
Langmuir
, vol.15
, pp. 8288-8291
-
-
Sieval, A.B.1
Vleeming, V.2
Zuilhof, H.3
Sudhölter, E.J.R.4
-
34
-
-
0031074095
-
-
Brunner, H.; Mayer, U.; Hoffmann, H. Appl. Spectrosc. 1997, 51, 209-217.
-
(1997)
Appl. Spectrosc
, vol.51
, pp. 209-217
-
-
Brunner, H.1
Mayer, U.2
Hoffmann, H.3
-
36
-
-
19744366928
-
-
Wallart, X.; de Villeneuve, C. H.; Allongue, P. J. Am. Chem. Soc. 2005, 125, 7871-7878.
-
(2005)
J. Am. Chem. Soc
, vol.125
, pp. 7871-7878
-
-
Wallart, X.1
de Villeneuve, C.H.2
Allongue, P.3
-
37
-
-
0034498478
-
-
Sieval, A. B.; Opitz, R.; Maas, H. P. A.; Schoeman, M. G.; Meijer, G.; Vergeldt, F. J.; Zuilhof, H.; Sudhölter, E. J. R. Langmuir 2000, 16,10359-10368.
-
(2000)
Langmuir
, vol.16
, pp. 10359-10368
-
-
Sieval, A.B.1
Opitz, R.2
Maas, H.P.A.3
Schoeman, M.G.4
Meijer, G.5
Vergeldt, F.J.6
Zuilhof, H.7
Sudhölter, E.J.R.8
|