Interface capacitance of La0.8Ca0.2MnO 3/Nb:SrTiO3 junctions

Journal of Applied Physics

Volumn 101, Issue 12, 2007, Pages

  Chen, Y F ^a   Ziese, M ^a   Esquinazi, P ^a  

^a UNIVERSITY OF LEIPZIG   (Germany)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

CAPACITANCE; ELECTRIC CURRENTS; EQUIVALENT CIRCUITS; MAGNETIC FIELD EFFECTS; MANGANESE COMPOUNDS; THERMAL EFFECTS; TRANSPORT PROPERTIES;

CHARGING EFFECT; INTERFACE CAPACITANCE; RC CIRCUITS; STRIKING FEATURE;

TERNARY ALLOYS;

EID: 34547315863     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.2748713     Document Type: Article

References (20)

1. J. M. D. Coey, M. Viret, and S. von Molnár, Adv. Phys. 48, 167 (1999).
2. M. Ziese, Rep. Prog. Phys. 65, 143 (2002).
3. H. Tanaka, J. Zhang, and T. Kawai, Phys. Rev. Lett. 88, 027204 (2002).
4. F. F. Xia, J. Gao, J. R. Sun, and B. G. Shen, Appl. Phys. Lett. 83, 4869 (2003).
5. J. R. Sun, C. M. Xiong, T. Y. Zhao, S. Y. Zhang, Y. F. Chen, and B. G. Shen, Appl. Phys. Lett. 84, 1528 (2004).
6. J. R. Sun, C. M. Xiong, Y. F. Chen, B. G. Shen, and L. Kang, Europhys. Lett. 66, 868 (2004).
7. H. B. Lu, Appl. Phys. Lett. 84, 5007 (2004).
8. F. X. Hu, J. Gao, J. R. Sun, and B. G. Shen, Appl. Phys. Lett. 83, 1869 (2004).
9. J. R. Sun, C. M. Xiong, B. Shen, P. Wang, and Y. X. Weng, Appl. Phys. Lett. 84, 2611 (2004).
10. N. Nakagawa, M. Asai, Y. Mukunoki, T. Susaki, and H. Y. Hwang, Appl. Phys. Lett.. 86, 82504 (2005).
11. A. Sawa, T. Fujii, M. Kawasaki, and Y. Tokura, Appl. Phys. Lett. 86, 112508 (2005).
12. Z. G. Sheng, B. C. Zhao, W. H. Song, Y. P. Sun, J. R. Sun, and B. G. Shen, Appl. Phys. Lett. 87, 242501 (2005).
13. J. R. Sun, S. Y. Zhang, B. G. Shen, and H. K. Wong, Appl. Phys. Lett. 86, 053503 (2005).
14. J. R. Sun, B. G. Shen, H. F. Tian, J. Q. Li, and Y. X. Weng, Appl. Phys. Lett. 87, 202502 (2005).
15. C. M. Xiong, Y. G. Zhao, B. T. Xie, P. L. Lang, and K. J. Jin, Appl. Phys. Lett. 88, 193507 (2006).
16. Y. A. Boikov and T. Claeson, Phys. Rev. B 70, 184433 (2004).
17. Y. A. Boikov and V. A. Danilov, Tech. Phys. Lett. 30, 361 (2004).
18. H.-M. Christen, J. Mannhart, E. J. Williams, and C. Gerber, Phys. Rev. B 49, 12095 (1994).
19. H. Y. Ku and F. G. Ullman, J. Appl. Phys. 35, 265 (1964).
20. M. Bibes, L. Balcells, S. Valencia, J. Fontcuberta, M. Wojcik, E. Jedryka, and S. Nadolski, Phys. Rev. Lett. 87, 067210 (2001).