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Volumn 33, Issue 6, 2006, Pages 2147-

SU‐FF‐T‐442: Use Of A 2D Array Of Diodes To Test The Accuracy Of MLC Leaf Position And Gap Width

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EID: 34347387845     PISSN: 00942405     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1118/1.2241361     Document Type: Conference Paper
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.