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Volumn 893, Issue , 2007, Pages 1213-1214

Ferromagnetic resonance study of ultra-thin Ga1-xMn xAs films as a function of layer thickness

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Ferromagnetic resonance; Ferromagnetic semiconductors; GaMnAs; Magnetic anisotropy; Spin waves

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EID: 34347346717     PISSN: 0094243X     EISSN: 15517616     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: 10.1063/1.2730335     Document Type: Conference Paper
Times cited : (10)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.