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Volumn 56, Issue 6, 2007, Pages 3212-3218

Study of the point defect, Re site, and Re cluster in Re embedded Ni3Al using the embedded atom method

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Cluster; Embedded atom method; Ni3Al; Occupational site; Re

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EID: 34347234206     PISSN: 10003290     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: None     Document Type: Article
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.