메뉴 건너뛰기




Volumn , Issue , 2006, Pages 691-692

Insight of stress effect on the ONO stack layer in a SONOS-type flash memory cell

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

INTERFACE TRAPS; STACK LAYERS; STRESS EFFECTS;

EID: 34250775987     PISSN: 15417026     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: 10.1109/RELPHY.2006.251327     Document Type: Conference Paper
Times cited : (1)

References (6)
  • 5
    • 0036714562 scopus 로고    scopus 로고
    • E. Luskey et al, IEEE EDL, Vol.23, p.556, 2002
    • (2002) IEEE EDL , vol.23 , pp. 556
    • Luskey, E.1
  • 6
    • 34250705291 scopus 로고
    • Motaharul K. et al, IEEE TED, Vol.41, p.2417, 1994
    • (1994) IEEE TED , vol.41 , pp. 2417
    • Motaharul, K.1


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.