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Volumn 1, Issue , 2005, Pages 330-

Model-based testing: Challenges ahead

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EID: 34248564895     PISSN: 07303157     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: 10.1109/COMPSAC.2005.110     Document Type: Conference Paper
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References (1)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.