Microwave shielding of transparent and conducting single-walled carbon nanotube films

Applied Physics Letters

Volumn 90, Issue 18, 2007, Pages

  Xu, Hua ^a   Anlage, Steven M ^a   Hu, Liangbing ^b   Gruner, George ^b  

^a Bldg 142   (United States)

^b UNIVERSITY OF CALIFORNIA   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

CORBINO REFLECTION TECHNIQUE; MICROWAVE CONDUCTIVITY; MICROWAVE SHIELDING; SINGLE-WALLED CARBON NANOTUBE FILMS;

FILM THICKNESS; MICROWAVE FREQUENCIES; OPACITY; RADIATION SHIELDING; SINGLE-WALLED CARBON NANOTUBES (SWCN); TRANSPARENCY;

THIN FILMS;

EID: 34247876154     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.2734897     Document Type: Article

References (28)

1. George Gruner, J. Mater. Chem. 16, 3533 (2006).
2. M. S. Fuhrer, J. Nygard, L. Shih, M. Forero, T. Yoon, M. S. C. Mazzoni, H. J. Choi, J. Ihm, S. G. Louie, A. Zettl, and P. L. Mceuen, Science 494, 288 (2000).
3. A. B. Kaiser, G. Dusberg, and S. Roth, Phys. Rev. B 57, 1418 (1998).
4. B. E. Kilbride, J. N. Coleman, J. Fraysse, P. Fournet, M. Cadek, A. Drury, S. Hutzler, S. Roth, and W. J. Blau, J. Appl. Phys. 92, 4024 (2002).
5. T. I. Jeon, K. Kim, C. Kang, I. H. Maeng, J. Son, K. H. An, J. Y. Lee, and Y. H. Lee, J. Appl. Phys. 95, 5736 (2004).
6. A. Ugawa, A. G. Rinzler, and D. B. Tanner, Phys. Rev. B 0163-1829 10.1103/PhysRevB.60.R11305 60, 011305 (1999); A. Ugawa, J. Hwang, H. Gommans, H. Tashiro, A. G. Rinzler, and D. B. Tanner, Curr. Appl. Phys. 1567-1739 1, 45 (2001); M. E. Itkis, S. Niyogi, M. E. Meng, M. A. Hamon, H. Hu, and R. C. Haddon, Nano Lett. 1530-6984 10.1021/nl0156639 2, 155 (2002); Y. Murakami, E. Einarsson, T. Edamura, and S. Maruyama, Phys. Rev. Lett. 94, 087402 (2005).
7. A. Ugawa, A. G. Rinzler, and D. B. Tanner, Phys. Rev. B 0163-1829 10.1103/PhysRevB.60.R11305 60, 011305 (1999); A. Ugawa, J. Hwang, H. Gommans, H. Tashiro, A. G. Rinzler, and D. B. Tanner, Curr. Appl. Phys. 1567-1739 1, 45 (2001); M. E. Itkis, S. Niyogi, M. E. Meng, M. A. Hamon, H. Hu, and R. C. Haddon, Nano Lett. 1530-6984 10.1021/nl0156639 2, 155 (2002); Y. Murakami, E. Einarsson, T. Edamura, and S. Maruyama, Phys. Rev. Lett. 94, 087402 (2005).
8. A. Ugawa, A. G. Rinzler, and D. B. Tanner, Phys. Rev. B 0163-1829 10.1103/PhysRevB.60.R11305 60, 011305 (1999); A. Ugawa, J. Hwang, H. Gommans, H. Tashiro, A. G. Rinzler, and D. B. Tanner, Curr. Appl. Phys. 1567-1739 1, 45 (2001); M. E. Itkis, S. Niyogi, M. E. Meng, M. A. Hamon, H. Hu, and R. C. Haddon, Nano Lett. 1530-6984 10.1021/nl0156639 2, 155 (2002); Y. Murakami, E. Einarsson, T. Edamura, and S. Maruyama, Phys. Rev. Lett. 94, 087402 (2005).
9. A. Ugawa, A. G. Rinzler, and D. B. Tanner, Phys. Rev. B 0163-1829 10.1103/PhysRevB.60.R11305 60, 011305 (1999); A. Ugawa, J. Hwang, H. Gommans, H. Tashiro, A. G. Rinzler, and D. B. Tanner, Curr. Appl. Phys. 1567-1739 1, 45 (2001); M. E. Itkis, S. Niyogi, M. E. Meng, M. A. Hamon, H. Hu, and R. C. Haddon, Nano Lett. 1530-6984 10.1021/nl0156639 2, 155 (2002); Y. Murakami, E. Einarsson, T. Edamura, and S. Maruyama, Phys. Rev. Lett. 94, 087402 (2005).
10. F. Borondics, K. Kamaras, M. Nikolou, D. B. Tanner, Z. H. Chen, and A. G. Rinzler, Phys. Rev. B 74, 045431 (2006).
11. B. Ruzicka, L. Degiorgi, R. Gaal, L. Thien-Nga, R. Bacsa, J. P. Salvetat, and L. Forro, Phys. Rev. B 61, R2468 (2000).
12. Z. Yu and P. J. Burke, Nano Lett. 1530-6984 10.1021/nl050738k 5, 1403 (2005); S. Li, Z. Yu, S. Yen, W. C. Tang, and P. J. Burke, Nano Lett. 4, 753 (2004).
13. Z. Yu and P. J. Burke, Nano Lett. 1530-6984 10.1021/nl050738k 5, 1403 (2005); S. Li, Z. Yu, S. Yen, W. C. Tang, and P. J. Burke, Nano Lett. 4, 753 (2004).
14. P. J. Burke, IEEE Trans. Nanotechnol. 2, 55 (2003).
15. O. Hilt, H. B. Brom, and M. Ahlskog, Phys. Rev. B 61, R5129 (2000).
16. P. Peit, E. Jouguelet, J. E. Fischer, A. G. Rinzler, and R. E. Smalley, Phys. Rev. B 56, 9275 (1997).
17. J. C. Booth, D. H. Wu, S. B. Qadri, E. F. Skelton, M. S. Osofsky, A. Pique, and S. M. Anlage, Phys. Rev. Lett. 0031-9007 10.1103/PhysRevLett.77.4438 77, 4438 (1996); J. C. Booth, D. H. Wu, and S. M. Anlage, Rev. Sci. Instrum. 65, 2082 (1994).
18. J. C. Booth, D. H. Wu, S. B. Qadri, E. F. Skelton, M. S. Osofsky, A. Pique, and S. M. Anlage, Phys. Rev. Lett. 0031-9007 10.1103/PhysRevLett.77.4438 77, 4438 (1996); J. C. Booth, D. H. Wu, and S. M. Anlage, Rev. Sci. Instrum. 65, 2082 (1994).
19. M. B. Bryning, M. F. Islam, J. M. Kikkawa, and Arjun G. Yodh, Adv. Mater. (Weinheim, Ger.) 17, 1186 (2005).
20. D. D. L. Chung, Carbon 39, 279 (2001).
21. C. Xiang, Y. Pan, X. Liu, X. Sun, X. Shi, and J. Guo, Appl. Phys. Lett. 87, 123103 (2005).
22. N. Li, Y. Huang, F. Du, X. He, H. Gao, Y. Ma, F. Li, Y. Chen, and P. C. Eklund, Nano Lett. 6, 1141 (2006).
23. Y. Zhou, L. Hu, and G. Gruner, Appl. Phys. Lett. 88, 123109 (2006).
24. J. E. Fischer, H. Dai, A. Thess, R. Lee, N. M. Hanjani, D. L. Dehaas, and R. E. Smalley, Phys. Rev. B 55, R4921 (1997).
25. E. Bekyarova, M. E. Itkis, N. Cabrera, B. Zhao, A. Yu, J. Gao, and R. C. Haddon, J. Am. Chem. Soc. 127, 5990 (2005).
26. M. Dressel and G. Gruner, Electrodynamics of Solids: Optical Properties of Electrons in Matter (Cambridge University Press, Cambridge, 2002), pp. 37-45.
27. Z. Wu, Z. Chen, X. Du, J. M. Logan, J. Sippel, M. Nikolou, K. Kamaras, J. R. Reynolds, D. B. Tanner, A. F. Hebard, and A. G. Rinzler, Science 305, 1273 (2004).
28. D. Hecht, L. Hu, and G. Gruner, Appl. Phys. Lett. 89, 133112 (2006).