X-ray diffraction reciprocal space mapping study of the thin film phase of pentacene

Applied Physics Letters

Volumn 90, Issue 18, 2007, Pages

  Yoshida, Hiroyuki ^a   Inaba, Katsuhiko ^b   Sato, Naoki ^a  

^a KYOTO UNIVERSITY   (Japan)

^b RIGAKU CORPORATION   (Japan)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

CRYSTAL STRUCTURE; DIFFRACTION PATTERNS; LATTICE CONSTANTS; THIN FILMS; X RAY DIFFRACTION;

PENTACENE; RECIPROCAL SPACE MAPPING (RSM);

HYDROCARBONS;

EID: 34247846345     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.2736193     Document Type: Article

References (23)

1. T. W. Kelley, P. F. Baude, C. Gerlach, D. E. Ender, D. Muyres, M. A. Haase, D. E. Vogel, and S. D. Theiss, Chem. Mater. 16, 4413 (2004).
2. N. Koch, A. Vollmer, I. Salzmann, B. Nickel, H. Weiss, and J. P. Rabe, Phys. Rev. Lett. 96, 156803 (2006).
3. C. D. Dimitrakopoulos, A. R. Brown, and A. Pomp, J. Appl. Phys. 80, 2501 (1996).
4. I. P. M. Bouchoms, W. A. Schoonveld, J. Vrijmoeth, and T. M. Klapwijk, Synth. Met. 104, 175 (1999).
5. C. C. Mattheus, A. B. Dros, J. Baas, G. T. Oostergetel, A. Meetsma, J. L. de Boer, and T. T. M. Palstra, Synth. Met. 138, 475 (2003).
6. D. Holmes, S. Kumaraswamy, A. J. Matzger, and K. P. C. Vollhardt, Chem.-Eur. J. 5, 3399 (1999).
7. C. C. Mattheus, A. B. Dros, J. Baas, A. Meetsma, J. L. de Boer, and T. T. M. Palstra, Acta Crystallogr., Sect. C: Cryst. Struct. Commun. 57, 939 (2001).
8. R. B. Campbell, J. Trotter, and J. Monteath, Acta Crystallogr. 15, 289 (1962).
9. T. Minakata, H. Imai, M. Ozaki, and K. Saco, J. Appl. Phys. 72, 5220 (1992).
10. J. S. Wu and J. C. H. Spence, J. Appl. Crystallogr. 37, 78 (2004).
11. L. F. Drummy and D. C. Martin, Adv. Mater. (Weinheim, Ger.) 17, 903 (2005).
12. T. Kiyomura, T. Nemoto, T. Ogawa, T. Minari, K. Yoshida, H. Kurata, and S. Isoda, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 45, 401 (2006).
13. S. E. Fritz, S. M. Martin, C. D. Frisbie, M. D. Ward, and M. F. Toney, J. Am. Chem. Soc. 126, 4084 (2004).
14. R. Ruiz, A. C. Mayer, G. G. Malliaras, B. Nickel, G. Scoles, A. Kazimirov, H. Kim, R. L. Headrick, and Z. Islam, Appl. Phys. Lett. 85, 4926 (2004).
15. H. C. Yang, T. J. Shin, M. M. Ling, K. Cho, C. Y. Ryu, and Z. N. Bao, J. Am. Chem. Soc. 127, 11542 (2005).
16. K. Omote and J. Harada, Adv. X-Ray Anal. 43, 192 (2000).
17. T. Kakudate, N. Yoshimoto, and Y. Saito, Appl. Phys. Lett. 90, 081903 (2007).
18. J. T. Sadowski, T. Nagao, S. Yaginuma, Y. Fujikawa, A. Al-Mahboob, K. Nakajima, T. Sakurai, G. E. Thayer, and R. M. Tromp, Appl. Phys. Lett. 86, 073109 (2005).
19. T. Shimada, H. Nogawa, T. Hasegawa, R. Okada, H. Ichikawa, K. Ueno, and K. Saiki, Appl. Phys. Lett. 87, 061917 (2005).
20. H. Yoshida and N. Sato, Appl. Phys. Lett. 89, 101919 (2006).
21. C. C. Mattheus, G. A. de Wijs, R. A. de Groot, and T. T. M. Palstra, J. Am. Chem. Soc. 125, 6323 (2003).
22. M. J. Frisch, et al., GAUSSIAN 03, Revision B. 03, Gaussian Inc., Pittsburgh, PA, 2003.
23. S. L. Mayo, B. D. Olafson, and W. A. Goddard III, J. Phys. Chem. 94, 8897 (1990).