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Volumn 772, Issue 1-2, 2007, Pages 49-66

Testable flipped SU (5) × U (1)X models

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EID: 34247465235     PISSN: 05503213     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/j.nuclphysb.2007.02.025     Document Type: Article
Times cited : (66)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.