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Volumn 37, Issue 2, 2007, Pages 141-142

Special issue on critical reliability challenges and practices

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EID: 33947586980     PISSN: 10834427     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1109/TSMCA.2007.891923     Document Type: Editorial
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.